透過電子顕微鏡の基礎とできること
公開日： 2023/02/06
透過電子顕微鏡は高い空間分解能を持ち、ナノスケールの形態観察や原子構造の観察を行うことができる装置です。
近年ではX線分光器、電子分光器、分割型検出器などを透過電子顕微鏡に取り付けることにより、試料の形態観察にとどまらず元素分析、化学結合状態分析、磁場・電場観察などを行えるようになっています。
本セミナーでは透過電子顕微鏡を用いて得られる様々な情報を概観します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
透過電子顕微鏡の基礎
透過電子顕微鏡の応用例
透過電子顕微鏡でよく用いられるオプションについて
参加いただきたいお客様
これから透過電子顕微鏡を使おうと考えている方
透過電子顕微鏡を決まった使い方で用いていて、今後応用することを検討している方
透過電子顕微鏡にオプションを導入することを考えている方
講演者
島 政英
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
開催日/詳細
2022年12月16日 (金) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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