薄膜・積層膜の分析方法をお探しの方へ ~XRF,XPSを用いた分析のご紹介~
公開日： 2023/01/06
更新日： 2023/03/27
試料表面に形成された薄膜・積層膜の元素組成や化学状態、その膜厚を調べるという要求は多くあります。そのような試料の分析には、SEM,TEMを用いて断面観察しながらの分析がよく行われていますが、高度な技能が必要となります。そこで、スクリーニングとして簡単に膜厚評価や状態分析を行いたい方に向けて、複雑な操作を行わず分析可能なXRFとXPSを紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
薄膜分析手法の例
XRFを用いた膜厚測定について
XPS,XRFを併用する有用性
参加いただきたいお客様
膜厚測定を行いたい方
XRFの膜厚測定を高精度に行いたい方
XRF,XPSの使用に興味がある方
講演者
村谷 直紀
SA事業ユニット
SA技術開発
第2グループ
開催日/詳細
2023年02月14日 (火) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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