JSX-1000S
エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF)
※RoHS対応製品
JSX-1000Sは、タッチパネルを採用した簡単に元素分析ができる蛍光X線分析装置です。
一般的な定性定量分析（FP法・検量線法）や、RoHS元素のスクリーニング機能を備えています。
ハードウェア・ソフトウェア両面の各種オプションにより、さらに幅広い分析が可能です。
特長
蛍光X線分析原理
試料にＸ線を照射すると、試料に含まれる元素特有のエネルギーを持つＸ線が発生します。
これを蛍光X線と呼びます。この蛍光Ｘ線を半導体検出器で検出し、エネルギー（横軸）から元素の種類をＸ線の強さ（縦軸）から元素の濃度を算出する分析法です。
幅広い応用分野
ソリューションの提供
ソリューションアプリは、予め登録されたレシピに従い目的の測定分析を自動実行します。ソリューションアプリリストから目的のソリューションアイコンを選択するだけで簡単に分析結果が得られます。多種多様な分野において簡単分析を提供します。
提供中のソリューション
標準構成のソリューション
オプション構成のソリューション
新開発のスマートFP (ファンダメンタルパラメータ) 法
新開発のスマートFP (ファンダメンタルパラメータ) 法により、標準試料を準備することなく、かつ自動的に残成分および厚さの補正を行った高精度な定量結果が得られます。
（残成分補正および厚さ補正機能は、有機物試料のみに対応しています）
| 厚み | 補正 | Cr | Zn | Cd | Pb | 自動バランス |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 0.5mm | No | 0.008 | 0.037 | 0.001 | 0.002 | 99.76 |
| 3.8mm | 0.012 | 0.109 | 0.004 | 0.006 | 99.64 | |
| 0.5mm | Yes | 0.011 | 0.137 | 0.015 | 0.010 | 99.54 |
| 3.8mm | 0.011 | 0.134 | 0.016 | 0.011 | 99.55 | |
| 標準値 | 0.010 | 0.125 | 0.014 | 0.010 | ||
FP法分析結果（mass%）
スマート・アシスト (YOKOGUSHI提案)
JEOL製品に対して、JSX-1000Sは分析のプレチェック、クロスチェック機として最適！！
砂に含まれるZr ED XRF→SEM EDS (YOKOGUSHI提案)
ジルコニウム(Zr)は海浜や河川の砂に含まれています。しかし、全ての砂にZrが含まれているわけではありません。
XRFを用いることで砂粒群にZrが含まれているかを迅速に判別することができます。また、SEM EDSを利用するとZrが存在する砂粒を特定することができます。
XRFとSEM EDSを併用することで、目的元素の所在を絞り込む事ができます。
動画紹介
◆上のボックス内の再生ボタンをクリックするとムービーが始まります（約4分）◆
シンプルオペレーション
試料をセットし、画面をタッチするだけの簡単な操作です。
分析結果表示／スペクトル表示の切り替えもタッチ操作で、タブレットPCやスマートフォンのような感覚で操作できます。(キーボート・マウスによる操作も可能です)。
セット＆タッチのシンプルオペレーション
シンプルで直感的な操作性のGUI
高感度＆ハイスループット
長年培った当社独自のアルゴリズムによるFP (ファンダメンタルパラメータ) 法により、標準試料を使わず高精度な定性・定量分析が行えます。
新開発・自社製SDD (シリコンドリフト検出器) と新設計の光学系、全エネルギー範囲対応フィルターにより高感度分析が可能です。
試料室排気ユニット (オプション) を装着することにより軽元素の検出感度が向上します。
全エネルギー範囲高感度分析
全エネルギー範囲高感度分析最大9種類のフィルター* と試料室排気ユニットにより全エネルギー範囲で高感度分析が可能になります。
ClとCu, Mo, Sb はオプションです。
微量元素検出例（10ppm以下）
仕様・オプション
| 検出元素範囲 | Mg～U |
|---|---|
| F～U（オプション） | |
| Ｘ線発生装置 | 5～50 kV , 1mA |
| ターゲット | Rh |
| 一次フィルタ 最大9種 自動交換 | OPEN, ND, Cr, Pb, Cd (標準） |
| Cl, Cu, Mo, Sb (オプション） | |
| コリメータ 3種 自動交換 | 0.9mm, 2mm, 9mm |
| 検出器 | シリコンドリフト検出器 |
| 試料室サイズ | 300mmφ×80mmH |
| 試料室雰囲気 | 大気 / 真空(オプション） |
| 試料室観察機構 | カラーカメラ |
| 操作用コンピュータ | Windows ® タッチパネル式デスクトップパソコン |
| 分析用ソフトウェア | 定性分析（自動定性、KLMマーカ
サムピーク表示、スペクトル検索） 定量分析（バルクFP法、検量線法） RoHS分析ソリューション（Cd,Pb,Hg,Br,Cr) 簡易分析ソリューション レポート作成ソフトウェア |
| 日常チェック用ソフトウェア | 管球エージング、エネルギーチェック、強度チェック |
Windows は、米国 Microsoft Corporation の、米国およびその他の国における登録商標または商標です。
主なオプション
試料室排気ユニット
多試料自動交換ユニット
フィルターセット
フィルターFP法分析ソフトウェア
薄膜FP法分析ソフトウェア
サムピーク除去ソフトウェア
Niメッキスクリーニングソリューション
Snメッキスクリーニングソリューション
ハロゲンスクリーニングソリューション
関連情報
RoHS指令を始めとする環境規制に関するJEOLの製品・サービス
カタログダウンロード
JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF)
アプリケーション
アプリケーションノート
DART Application: 熱脱離/熱分解DART質量分析および蛍光X線分析によるダクトテープの分析
FP法によるプラスチックに含まれる無機元素の定量定性分析 - 有機物標準試料の測定例 -
FP法による酸化物の定量分析（簡易分析とマニュアル分析）- 合金標準試料の測定例 -
環境分析
蛍光Ｘ線分析による大気粉じんの測定：空気清浄器フィルターの測定
食品分析
蛍光X線分析法によるホタテ貝の測定：貝柱部と中腸腺部の重金属元素の比較
工程管理
熱脱離/熱分解DART質量分析および蛍光X線分析によるダクトテープの分析
Niメッキ分析ソフトウェア (RoHS)：蛍光X線分析装置JSXシリーズ
Snメッキ分析ソフトウェア (RoHS)：蛍光X線分析装置JSXシリーズ
鉱石分野
ウェビナーアーカイブ
-
SEM × XRFコラボセミナー ～スクリーニングから詳細解析まで解析事例を紹介します！～
約27分
近年の品質管理では、迅速かつ高精度な分析が求められています。その分析手段の一つとして、走査電子顕微鏡（SEM）と蛍光X線分析（XRF）があります。SEMは電子線を用いた局所情報、XRFはX線を用いた平均情報を取得する手法で、これらを上手に併用することで効率的かつ信頼性の高い分析が可能です。
本webinarではSEM、XRFの特長と使い分けに加えて、実機を用いた測定事例を紹介します。開催日：2025年7月4日(金)
-
XRF最新技術、ヘリウムフリーで液体中の軽元素測定を可能にする"低真空液体試料カプセル"のご提案
約23分
XRFで液体中の軽元素を分析する際、試料室をヘリウムで置換し測定が行われています。
しかし、昨今ヘリウムが不足しており、この手法を継続することが難しくなってきています。
そこで今回日本電子では、液体を真空内に保持することが可能な低真空液体試料カプセルを開発しました。
本カプセルを用いることで、ヘリウム置換を行わずに軽元素の高感度検出が可能になりましたので紹介します。開催日：2023年5月12日(金)
-
異物の特定にこの一台！簡単便利なXRF-異物のサンプリングから分析までのコツ紹介-
約24分
品質管理の場面において、製品に混入・付着した異物を特定することは、原因解明のために非常に重要です。
異物分析には様々な装置が用いられています。中でもエネルギー分散型蛍光X線分析装置 (XRF) は、非破壊で簡便に異物の元素情報を得ることができます。本発表ではXRFを用いた異物分析について、異物のサイズや、異物を製品から分離可能か等、異物の状態に合わせたサンプリング方法から異物特定までの分析のコツを、実例とともにご紹介します。開催日：2022年5月27日(金)
-
蛍光X線と特性X線の活用術 ～XRF・EPMA見落としのない測定条件設定方法～
約27分
XRF・EPMAともに元素分析を行う装置として知られていますが、得られる結果には違いがあります。この"違い"を活用することで、より効率的・より正確な測定を行うことができるようになります。
今回は、まずXRFとEPMAの分析原理や特長について説明し、2つの装置を組み合わせた分析事例をご紹介します。また、XRFのデータをEPMAに読み込ませるだけで、EPMAの測定条件を簡単に設定できる「EPMA-XRFインテグレーションシステム」についてもご紹介します。開催日：2021年4月20日(火)
-
スマートFP法で働き方改革！標準試料も検量線も必要としないRoHSスクリーニングのご紹介
約28分
XRFは、RoHS指令で規制されている有害元素のスクリーニング機器として定着しています。しかし検量線法では、適切な検量線を用いないと定量結果が真値から外れてしまうことが落とし穴となっています。
弊社のXRF「JSX-1000S」は、試料の材質、密度、厚さの影響を自動解析し補正を行うスマートFP法を搭載しています。これにより、高額な標準試料の購入や検量線作成の心配もなく、誰でも簡単に定量分析を行うことができるようになりました。今回の発表では、検量線を作成するにあたっての注意点についてお話しした後、スマートFP法を活かしたRoHSスクリーニング事例をご紹介します。開催日：2020年7月17日(金)
-
樹脂も、液体も、定量分析にはXRF！自動厚さ補正機能を活かしたスマートFP法の分析事例
約24分
XRFは非破壊・迅速・簡便な元素分析法として知られています。しかしその落とし穴として、厚みの薄い試料を測定すると定量値にずれが生じ、特にその影響は試料が樹脂や水溶液などのソフトマテリアルである場合に起こりやすいことが知られています。
弊社のXRF: JSX-1000Sは"自動厚さ補正機能"を有しており、これにより試料厚みを気にせずにFP法で定量分析を行うことができます。今回の発表では、まずXRFによる測定を行う上で必要な試料厚み（無限厚）についてお話しした後、"自動厚さ補正機能"を活かした分析事例をご紹介します。開催日：2019年6月28日(金)
-
ICPユーザー必見！ED-XRFによる微量元素の検出下限 ～スクリーニングからppmオーダー分析まで～
約25分
元素分析は鋼種判定・品質管理・有害物質規制など様々な場面で行われており、その際用いる元素分析法は、着目元素の濃度に応じて適切なものを選択する必要があります。 例えば微量分析は、高周波誘導結合プラズマ（ICP）発光分光法などの湿式分析法がよく用いられています。
エネルギー分散型蛍光X線分析法 (ED-XRF) は、非破壊・迅速・簡便な元素分析法として知られています。 今回、ED-XRFによる各元素の検出下限を算出し、さらに定量精度を評価しました。 ED-XRFがどの濃度に対して元素分析を行えるのか、実例とともにご紹介します。開催日：2018年11月16日(金)
ギャラリー
more info
