SXESを用いた定量分析への取り組み ~ 電子プローブマイクロアナライザーとの相違点
公開日： 2023/02/13
軟Ｘ線発光分光器 (SXES) を用いて主に計測する特性Ｘ線は、価電子帯-内殻の遷移に基づく発光スペクトルであることが多いので、材料の化学結合状態によってスペクトル形状が大きく変化し、既存のZAF定量補正法などを用いた定量精度の向上は困難となります。このような特徴を踏まえて、材料の定量分析を実施した場合の留意点や、電子プローブマイクロアナライザーとの相違点、SXESでの実測データの紹介を行います。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
SXESの概要
SXESを用いた材料の定量分析はどこまで可能か？
EPMAとSXESの定量分析の特徴、相違点
参加いただきたいお客様
SXESに興味があるのでSXESを用いた材料分析の特徴を知りたい。
SXESに限らず、SEM-EDS、EPMAでの定量分析の違いを知りたい。
SXESを使っているが、材料分析に更に活用したい。
講演者
髙倉 優
SA事業ユニット
SA技術開発第2グループ
開催日/詳細
2023年03月24日 (金) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問い合わせ
お問い合わせ先
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
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