高分子試料のサンプリング方法
公開日： 2023/07/26
開催日変更のお知らせ：9月29日（金）から12月1日（金）に日程変更となりました。ご予定いただいていたお客様には誠に申し訳ございません。
TEMを使った高分子試料の微細構造観察では、ウルトラミクロトームを使って超薄切片を作製するのが一般的ですが、高分子試料の種類に応じて適切な前処理法を選択する必要があります。
本講演では高分子試料の前処理法を含めたウルトラミクロトームによる薄片化の全体的な流れをポイントとともにご紹介します。
このウェビナーから学べること
高分子試料のサンプリングの大まかな流れ
ウルトラミクロトームを使った高分子試料のサンプリング方法
参加いただきたいお客様
高分子試料のサンプリング方法を知りたい方
ウルトラミクロトームを使ったサンプリング方法を知りたい方
講演者
青木 遥
EM事業ユニット
EMアプリケーション部 2グループ
開催日/詳細
2023年12月1日 (金) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。
ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「詳細はこちら」をご覧ください。
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お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
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