クライオFIB/TEMワークフローの御紹介
公開日： 2023/12/28
クライオ透過電子顕微鏡(TEM)法は急速凍結により試料の分子形態を保ったまま観察を行うことができる手法ですが、近年では単粒子解析法による高分解能の蛋白質構造解析のみならず、in vivo試料の電子線トモグラフィを用いた構造解析も脚光を浴びています。しかしながら、細胞や菌類など大きな試料のクライオTEM観察を行う場合、試料を電子線が透過する程度まで薄く切削する必要があります。今回はクライオFIBを用いて試料を凍結したまま切削し、クライオTEM観察までを行うワークフローのご紹介をさせていただきます。
このウェビナーから学べること
汎用機を用いたクライオFIB/TEMワークフローについて。
専用機を用いたクライオFIB/TEMワークフローについて。
光学顕微鏡との相関を行うクライオCLEMワークフローについて。
参加いただきたいお客様
創薬分野の研究、開発をされている方
構造生物学分野の研究をされている方
生物学分野の研究をされている方
講演者
細木 直樹
日本電子株式会社
S企画推進本部
クライオアプリサポートグループ
開催日/詳細
2024年2月6日 (火) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
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発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。
ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「詳細はこちら」をご覧ください。
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お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
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