JEOLが提供するFIBによるTEM試料作製ソリューション
公開日： 2024/01/25
FIB-SEMは、TEM用の試料作製装置として広く応用されています。
近年ではTEMの高分解能化に伴い、要求される試料はより薄く、より高品質なものが要求されています。
最新FIB-SEMシステム JIB-PS500iは、これらの要求に応えるべく装置開発いたしました。
さらに試料ハンドリングも見直しました。
TEMとのリンケージを強化することで試料ロストのないFIBとTEM間の試料搬送を実現し、容易なTEM試料ハンドリングを両立しています。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
最新のFIB-SEMシステム
TEM試料作製ソリューション
参加いただきたいお客様
FIBユーザーやFIBをご検討中の方
FIBで試料作製を行っている方
FIB-SEMによるTEM試料作製を向上したい方
講演者
門井 美純
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
開催日/詳細
2024年3月8日 (金) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
発表資料の配布はありません。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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