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アンコール配信:非導電性試料に対するSEM観察の進め方 PartI

公開日: 2025/03/07

定員のため、申し込みを締め切りました。

こちらのウェビナーは定員に達したため申し込みを締め切りました。ご聴講をご要望の方は後日の録画配信をご視聴ください。

 

2025年3月に開催しました本ウェビナーですが、ご好評につきアンコール配信いたします。
前回定員になってしまい、お申込みいただけなかった方などぜひご参加ください。
前回参加された方もお申込みいただけます。

走査電子顕微鏡 (SEM) では、非導電性試料をそのまま観察すると、帯電 (チャージアップ) が起こるため、帯電対策が不可欠です。しかし、帯電の見分け方が分からない、対策を施しても帯電が抑制できないといった悩みを持つ方が多いのが現状です。
本ウェビナーでは、帯電の見分け方をはじめ、サンプリングと測定条件を中心に帯電対策における押さえるべきポイントを紹介します。
なお、こちらのウェビナーは3月に実施したウェビナーのアンコール配信になります。3回に分けてシリーズで実施いたします。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

  • 帯電の見分け方

  • 帯電対策における押さえるべきポイント

  • 非導電試料のSEM観察の進め方

参加いただきたいお客様

  • SEMを使い始めた方

  • 非導電性試料をSEMで観察している方

  • 帯電対策について知りたい方

講演者

松本 雄太

日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部

開催日/詳細

  • 2025年4月15日(火) 16:00~17:00

関連製品

発表資料

講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

講演録画

後日講演録画を掲載します。掲載の際は弊社電子顕微鏡メールマガジンやSNSにてご案内をいたします。

参加費

無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法

こちらのウェビナー定員に達したため申し込みを締め切りました。

お問い合わせ

日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp

  • [at]は@に、ご変更ください。
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日本電子では、お客様に安心して製品をお使い頂くために、
様々なサポート体制でお客様をバックアップしております。お気軽にお問い合わせください。