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第44回 EPMA・表面分析ユーザーズミーティング東京

公開日: 2025/04/08

本年のEPMA・表面分析ユーザーズミーティング東京は、会場で開催すると同時にWEBでの同時配信を予定しております。
例年同様、外部講演の先生方を含め、さまざまな分野を網羅した新技術情報や実践的技術情報の発表を企画しています。また、会場ではポスター展示や装置紹介コーナー設置を予定しております。講演終了後には懇親会を予定しておりますので、ユーザーの皆様と弊社スタッフの情報交換の場として有意義にご歓談いただければ幸いです。
ご多忙の折とは存じますが、皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。

開催日

2025年10月31日(金)

会場

浅草橋ヒューリックホール
〒111-0053 東京都台東区浅草橋1-22-16 ヒューリック浅草橋ビル 2階
アクセスマップ

参加費

無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

ご連絡

  • ご来場の際、受付で名刺を2枚頂戴いたします。お手数ですが、事前にご用意をお願いいたします。

  • 同業他社様、代理店様の方々のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

  • 予稿集(冊子)につきましては、会場参加の方のみに配布いたします。オンライン参加の方で予稿集(冊子)をご要望の方は、弊社担当営業までご依頼ください。なお、デジタルデータの提供は行いません。

  • 各講演の質問につきましては、会場参加の方のみお受けいたします。オンライン参加の方で講演のご質問がある方は、終了後のアンケートにご記入ください。

  • 開催終了後、ホームページに発表動画の掲載は行いません。

お問い合せ

日本電子株式会社
ユーザーズミーティング事務局
jeolum[at]jeol.co.jp

  • [at]は@に、ご変更ください。

プログラム

時間 題名
要旨
講演者
09:30~ 受付
10:00~10:10 開会挨拶
10:10~10:40

WDSスペクトラマップ分析の紹介

電子プローブマイクロアナライザー(EPMA)において、元素マッピングと波長分散型X線分光器(WDS)駆動を同期させることで、エネルギー分散型X線分光器(EDS)と比較して圧倒的に 高いピーク分解能を持つスペクトルイメージング手法を開発しました。本測定手法では、分析視野内の各ピクセルに対応するスペクトル情報を保持していますので、ネット強度マップの作成、波長ROI(Region of Interest)幅の変更、指定視野領域の平均組成情報の取得といった解析を柔軟に行うことができます。これにより、データのハンドリング性が大幅に向上しました。 本発表では,本ソフトウェアにおけるデータ取得手法とその解析例について報告します。

日本電子株式会社
SI事業部門
SA事業ユニット
SA技術開発部
縄舩 泰輝
加藤 光樹
10:40~11:15

公設試験場における EPMAでの解析事例

福島県ハイテクプラザは福島県が設置した公的工業試験場です。 主に福島県内の製造業等から依頼される材料、部品、製品の技術相談・測定・分析等を行っています。 これまでは金属系材料や電子部品等は主にSEM-EDXで行っており、高度な組成分析を必要とする案件は詳細な解析が困難でした。 昨年度FE-EPMA(JXA-iHP200F型)を導入し解析可能となった材料自体や製造不良の分析事例について紹介します。

福島県ハイテクプラザ
橋本 政靖 様
11:15~11:50

EPMA分析を活用した溶接部における高温破壊挙動の調査

2つの金属部品を1つの金属部品へ一体化させていく技術に「溶接」があります。 溶接は、熱を与えることで金属を溶融させ接合させるが、金属に融点を遙かに超える熱が与えられ、それが制御されることなく冷却されることから複雑な組織となります。 それに起因して溶接部では様々な問題が生じます。ここで取り上げるのは、溶接部から破壊が生じる「再熱割れ」という問題ですが、その原因究明にEPMAを活用した事例を紹介します。

国立大学法人大阪大学
山下 正太郎 様
11:50~12:15

昼食

12:15~13:00

実機・ポスター展示

13:00~13:30

Augerを用いたスペクトルの取得について

オージェ電子分光法は、試料表面から約 10 nmの深さを約 10 nmの空間分解能で分析できる優れた手法です。 しかし、「同じ試料を同じ条件で測定しても結果が異なる」「AESは再現性がない」といった理由で敬遠されることがあります。果たして本当に“ 同じ条件 ”で測定できているのでしょうか。 分析結果には、プローブ径、試料の凹凸、サンプリング方法など多くの要因が影響します。 本稿では、特に分析領域・試料高さ/傾斜・プローブ径に着目し、条件の違いによるスペクトル変化を報告し、再現性のある測定のための指針を示します。

日本電子株式会社
SI事業部門
SA事業ユニット
SA技術開発部
伊木田 木の実
13:30~14:00

XPSを用いた粉体分析を行う方へ
~各種試料固定方法のコツ紹介~

XPSを用いた粉体試料の分析において、試料の固定方法はいくつか種類があり、試料量や目的等によって使い分けられます。
今回、一般的な固定方法であるカーボンテープへの固定、加圧成型、インジウム等の基材への埋め込みを用いていくつかの試料をXPS測定しました。 本発表ではこれらの手法について試料量、固定圧力、固定する基材を変えた際に、得られるXPSスペクトルのピーク強度、ピーク幅、試料汚染への影響について報告します。

日本電子株式会社
SI事業部門
SA事業ユニット
SA技術開発部
村谷 直紀
14:00~14:35

次世代キャパシタの開発における高速蓄電ナノ材料の構造評価

著者らは独自に開発した超遠心(UC)処理技術を用いて、Li₄Ti₅O₁₂(LTO)およびLiFePO₄(LFP)のナノ構造複合体を合成し、従来にない高出力・高エネルギー密度を両立するハイブリッドキャパシタ電極を実現しています。 産学連携プロジェクトを通じて、LTOはナノシート状構造に、LFPは結晶性/非晶質の二重コアを有するコア-シェル型構造に制御され、いずれも優れたLi⁺拡散性と超高速充放電特性を発揮します。 特にLFP複合体では、480℃においても対称的な高容量動作が可能であり、次世代エネルギーデバイスへの応用が期待されます。 本講演では、これらの材料開発の背景とともに、HRTEM、in-situ XAFS、XRDなどの先端ナノキャラクタリゼーション技術を用いた構造・機能解析の成果について紹介します。

国立大学法人東京農工大学
直井 勝彦 様
14:35~15:05

休憩 /実機・ポスター展示

15:05~15:40

たかが元素分析 されど元素分析!
~研究室での分析事例紹介~

元素分析は最も基本となる分析で、日常業務の中で最も利用することが多い分析です。
元素分析結果に自信を持てていますか? 江口研究室の研究内容および分析事例をご紹介し、元素分析のTipsをご紹介しま す。

早稲田大学
長瀧 篤子 様
15:40~16:10

現場で使える EPMAテクニック
~元素同定編~

高い波長分解能と微量元素分析能力を有する電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)は固体表面の微小領域の非破壊分析装置として幅広い分野で使用されています。
定量分析や面分析を含むあらゆる元素分析において、定性分析(元素同定)は基本となる分析であり、非常に重要な役割を持っています。
本発表では、EPMAやEPMAに搭載されているEDSを用いた定性分析において、正しい元素同定を行うための基礎を紹介します。

日本電子株式会社
ソリューション開発センター
ソリューション推進部
土門 武
16:10~16:20 閉会挨拶
16:20~17:30 懇親会 /実機・ポスター展示
  • プログラムは予告無く変更させていただく場合がございます。予めご了承頂きますようお願い申し上げます。

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  • 詳細は決まり次第ご案内いたします

お申し込み方法

下記よりお申し込みください。

  • こちらのフォームからお申込み出来ない場合、恐れ入りますが問い合わせ先のユーザーズミーティング事務局までご連絡ください。

  • 申し込みは先着順になります。お早目にお申し込みください。

  • 同業他社様、代理店様のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承下さい。

  • ウェビナー形式での登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。
    ウェビナーはZoomで開催します。テストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「Zoomのテストはこちら」をご覧ください。

 

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