電子プローブマイクロアナライザー（EPMA）のWDSとEDSを用いた最新分析技術の紹介
公開日： 2025/04/11
EPMAは試料に電子線を照射し、発生した特性X線をWDSで検出することで微小領域から広範囲までの元素分析を行う分析装置です。EDSも同様に元素分析を行う検出器として知られています。今回のウェビナーではWDSとEDSの違い、それぞれの原理と最新の分析技術についてご紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
WDSとEDSの原理
WDSとEDSの違い
WDSとEDSを用いた最新のソフトウエアと最新の分析技術
参加いただきたいお客様
SEM-EDSを用いて分析されている方
EPMAを最近使い始めた方
最新の分析技術が気になる方
講演者
上條 栞
日本電子株式会社
SA事業ユニット
技術開発部
開催日/詳細
2025年6月6日 (金) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
講演録画
後日講演録画を掲載します。掲載の際は弊社電子顕微鏡メールマガジンやSNSにてご案内をいたします。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
