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透過電子顕微鏡用試料作製の種類と概要

公開日: 2025/06/18

透過電子顕微鏡を始める際の最初の問題は観察試料の準備です。このセミナーではこれから透過電子顕微鏡を始める方を対象に各種試料を準備するための試料作製法の紹介をします。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

  • 透過電子顕微鏡用の試料作製方法

  • 試料作製に使用する周辺機器

参加いただきたいお客様

  • これから透過電子顕微鏡を始める方

関連製品

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置

TEM周辺機器

講演者

河原 尚

日本電子株式会社
SI事業部門 EP事業ユニット EPアプリケーション部

開催日

2025年8月15日(金) 16:00 ~ 17:00

参加費

無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

発表資料

講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

講演録画

後日講演録画を過去の動画(ウェビナー一覧)ページに掲載します。
掲載の際は電子顕微鏡メールマガジンやSNSにてご案内をいたします。

お問い合せ

日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp

  • [at]は@に、ご変更ください。

お申し込み方法

下記よりお申し込みください。

  • 登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。

  • ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「Zoomのテストはこちら」をご覧ください。

  • 競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

 

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様々なサポート体制でお客様をバックアップしております。お気軽にお問い合わせください。