ウルトラミクロトームによるTEM試料作製の基礎
公開日： 2025/11/26
透過電子顕微鏡(TEM)では電子線が透過できる厚さに試料をサンプリングする必要があり、生物・高分子試料のような柔らかいサンプルには、一般的にウルトラミクロトームを使った超薄切片法が用いられます。本ウェビナーでは超薄切片法の基本的な流れについてご紹介いたします。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
ウルトラミクロトームを使った生体試料のサンプリング方法
ウルトラミクロトームを使った高分子試料のサンプリング方法
参加いただきたいお客様
これから生体試料のTEM試料作製を行う予定の方
これから高分子試料のTEM試料作製を行う予定の方
関連製品
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講演者 |
青木 遥 日本電子株式会社 
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開催日 |
2026年2月6日(金) 16:00 ～ 17:00 |
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参加費 |
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。) |
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発表資料 |
発表資料の配布は行いません。 |
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講演録画 |
後日講演録画を過去の動画(ウェビナー一覧)ページに掲載します。
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質疑応答 |
講演終了後に質疑応答の時間を設けています。 |
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お問い合せ |
日本電子株式会社
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お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
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登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。
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ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「Zoomのテストはこちら」をご覧ください。
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