その場観察ホルダーについての最新の情報

公開日： 2026/05/19

MEMS型のその場観察ホルダーでの最新情報をご紹介します。MEMS型のその場観察ホルダーは特別なTEMを用いることなく、高温、ガス環境あるいは液中環境など実環境に近い状態を再現することができます。今回はProtochips社の光導入ガス環境ホルダーや、-50℃から300℃での環境が可能な液中ホルダーおよびそれらのホルダーから取得した応用例をご紹介いたします。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

• MEMS型のその場観察ホルダーの最新情報

• 既設のTEMでその場観察を導入するための方法

• その場観察の（加熱、電圧印加、ガス環境、液中での）方法

参加いただきたいお客様

• TEMを用いて材料解析を行っている方

• 付加価値のある材料解析手法をお探しの方

• その場観察に興味のお持ちの方

関連製品

透過電子顕微鏡 (TEM)

講演者	福永 啓一 日本電子株式会社 SI事業部門 EM事業ユニット EMアプリケーション部
開催日	2026年6月23日(火) 16:00 ～ 17:00
参加費	無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
発表資料	講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
講演録画	後日講演録画をウェビナ－アーカイブに掲載します。 掲載の際はメールマガジンやSNSにてご案内をいたしますので登録/フォローをお願いします。
質疑応答	講演終了後に質疑応答の時間を設けています。 ご質問のある方は参加登録フォームの事前質問欄にご記入いただくか、講演当日にZoomのQ&A機能をご利用ください。
お問い合せ	日本電子株式会社 デマンド推進本部 ウェビナー事務局 sales1[at]jeol.co.jp [at]は＠に、ご変更ください。

お申し込み方法

下記よりお申し込みください。

• 登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。

• ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、初めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「Zoomのテストはこちら」をご覧ください。

• 競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。