JXA-8100 電子プローブマイクロアナライザ

波長分散型X線分光装置（WDS）が付いた分析装置で、超軽元素用好感度分光素子の利用で微量な軽元素の分析が可能です。材料の品質評価、新素材開発等に利用され、取得されたデータはネットワークを通じて送信が可能です。

特長

<<現在販売中の後継機種は、 JXA-iSP100 となります。>>

JEOL の EPMA は、長年培った豊富な電子光学機器のノウハウからEPMAに最適な光学系、真空系および操作機能を搭載し、分析者の目的に合った解析機能が充実しています。

ハードもソフトもこだわりのエンジニア達が独自に設計し、全て自社開発して熟成した自慢の装置です。

しかも解析手段は、迅速で正確かつ使い易くとの世界中の厳しいユーザーの皆さまからの要求に基づき、洗練されたツールになりました。

お客様との長年のコミュニケーションの財産がこの装置には盛り込まれているのです。

きっと初心者の方でもすぐに馴染まれることでしょう。洗練されたJXA-8100/8200 は、多くの仕事もスイスイこなします。もはやネットワークは当たり前。データ解析、プレゼン準備もご自分の机の上で。

複数のOSに対応しています。リモート機能が生きてきます。

分析元素範囲	5B～92U (4Be～)
X線分光範囲	0.087～9.3nm
X線分光器数	1～5基選択　（全分光器：スキャナー形）
最大試料寸法	100mm×100mm×50mm (H)
分析領域	90mm×90mm
試料ステージ最大駆動速度	15mm/s
加速電圧	0.2～30kV　（0.1kVステップ）
照射電流範囲	10-12～10-5A
照射電流安定度	±0.05%/h, ±0.3%/12h
二次電子像分解能	6nm (WD11mm,30kV)
反射電子像	組成像、凹凸像
走査倍率	×40～300,000 (WD11mm)
走査像解像度	1,280×1,024 （リアルタイム表示可能）
カラーディスプレイ	分析操作用：1,280×1,024 SEM操作/観察用：1,280×1,024
アプリケーション	定性分析、エキスパート定性分析、半定量分析、定量分析、検量線分析、線分析、面分析、連続自動分析、複合マップ分析、ミニチュア表示、ファイル検索