すべてのユーザへ親しみやすいPCベースのオペレーション
汎用性が高く手軽なEDSを搭載可能であり、WDSとEDSの連携は、シームレスで手軽な分析環境をご提供します。
特長
PCオペレーション、WD/EDコンバイン、環境への配慮・・・
新世代を担う機能を集約
半世紀の歴史を持つJEOLのEPMA ( Electron Probe Microanalyzer ) が、新しく生まれ変わり、いっそう手軽に利用できる身近な分析装置になりました。
PCウィンドウによる新操作体系へと変わり、測定・解析作業が容易になりました。わずらわしい条件設定作業から解放され、分析したいときにすぐに測定を開始できる機能を用意しています。もちろん、豊富な機能を使いこなす高度な分析も可能です。
長年培った信頼性の高いハードウェアが、新しいEPMAの高精度で迅速な分析を支えています。
JXA-8230は、分析機器としてのEPMAへのあらゆるニーズに、十分お応えできる新世代の装置です。
PCオペレーション
EPMAクイックスタート
プロジェクト管理
EPMAエクスプローラ
X線像 (WDS) リアルタイム合成
EDSアクティブマップ*
新開発、超軽元素用分光素子
ターボ分子ポンプの採用
全スペクトル同時取込
「ここを分析」機能
二次電子像や反射電子像の観察中に、像上の任意の点をクリックするだけでスペクトル収集が始まります。EPMA (WDS) ならではの微量元素の検出や、高精度の定量分析の結果が自動で簡単に得られます。
ユーザーレシピ
よく使う分析条件を「レシピ」としてセーブ・ロードすれば、いつでも誰でも、同じ条件で分析ができます。複数のレシピを組み合わせるだけで連続分析の設定もOKです。
アドバンスド オペレーション
もちろん、詳細な分析条件の設定も思いのまま。こだわりの分析条件を使って微小領域の元素分析ができます。また、豊富なアプリケーションと、これまで以上に使いやすいソフトウェアが多角的なデータ解析をサポートします。
WD/EDコンバインシステム
JEOL製のWDSとEDSをさらに発展させ、使いやすいWD/EDコンバインシステムを実現しました。微量元素の分析が得意なWDSと、JEOLの分析SEMで定評あるEDSシステムとの組み合わせは、例えば広範囲のステージスキャンマップや、定量分析で効率的なデータ収集に最大限の力を発揮します。
仕様・オプション
分析元素範囲 | WDS:(Be)※1 /B~U, EDS:B~U |
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X線分光範囲 | WDS分光範囲: 0.087~9.3nm, EDSエネルギーレンジ: 20keV |
X線分光器数 | WDS : 1~5基選択、EDS : 1基 |
最大試料寸法 | 100mm × 100mm × 50mm(H) |
加速電圧 | 0.2~30kV(0.1kVステップ) |
照射電流範囲 | 10-12~10-5 A |
照射電流安定度 | ±0.05%/h, ±0.3%/12h(W) |
二次電子分解能 | 6nm(W), 5nm(LaB6)※2 (W.D. 11mm, 30kV) |
走査倍率 | ×40 ~ ×300,000(W. D. 11mm) |
走査像解像度 | 最大5120 × 3840 |
カラーディスプレイ | EPMA分析用: LCD 1280 × 1024 SEM操作、 EDS分析用: LCD 1280 × 1024 |
:Be分光用オプション分光素子を装着した場合です。
:LaB6はオプションです。
カタログダウンロード
JXA-8230 電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)
アプリケーション
JXA-8230に関するアプリケーション
分野別にみるEPMA分析手法~凹凸試料から微量炭素分析まで~
真鍮製配管部品のひび割れ解析 - XRFとEPMAによるトラブル原因の追及 -
新しい波長分散形軟X 線発光分光器を搭載した電子プローブマイクロアナライザによる元素分析および元素の状態分析
関連製品
miXcroscopy™ 光学顕微鏡/走査電子顕微鏡リンクシステム
光学顕微鏡と走査電子顕微鏡の試料ホルダを共通化し、ステージ情報を専用のソフトウェアで管理することにより、光学顕微鏡で観察した箇所をシステムに記憶させ、同一視野を走査電子顕微鏡でさらに拡大して微細構造観察ができるようになりました。光学顕微鏡で観察ターゲットを見逃すことなく、シームレスに走査電子顕微鏡で観察することが可能となり、光学顕微鏡像と走査電子顕微鏡像との比較検証がよりスムーズで容易にできるようになりました。