・高感度・低ノイズ・19 MピクセルのCMOSセンサーを搭載し、入射電子量が少なくても、試料のディテールを引き出しクリアな画像が得られます。
・グローバルシャッター方式と高いフレームレート (58 fps / 全画素モード) により、動的観察時にアーティファクトが抑制された画像シリーズを取得することができます。
・カメラシステム制御ソフトウェア"SightX"は、ユーザーフレンドリーな操作性を提供します。
特長
窒化シリコンの高分解能TEM像
デジタルズームすることにより格子像まで鮮明に観察できます。
Al72Fe24Ni4正10角形準結晶の高分解能TEM像と電子回折図形
デジタルズームをすることにより準結晶特有の準周期の原子配列も観察できます。
また、高いダイナミックレンジにより、電子回折図形を強度の強いダイレクトスポットから強度の弱い回折スポットまで観察できます。
試料ご提供:
東北大学 金属材料研究所 平賀贒二 名誉教授
九州大学 工学研究院 湯葢邦夫 博士
右上の明るい三角形の領域はLog表示です。
装置: JEM-2100Plus
加速電圧: 200 kV
多結晶シリコンのTEM像
多結晶シリコンの双晶組織などがコントラスト良く観察できます。
明視野像
暗視野像
黄丸で囲まれたスポットで暗視野像を結像
装置: JEM-2100Plus
加速電圧: 200 kV
ポリエチレン (PE) ・ ポリプロピレン (PP) のTEM像
デジタルズームすることによりラメラ構造が鮮明に確認できます。
ニンジンの葉のTEM像
葉緑体・ミトコンドリアの膜構造を確認できます。
さらに、細かい膜構造まで繊細に観察できます。
リン脂質 (Liposome) の脂質二重膜のTEM像
リン脂質 (Liposome) の脂質二重膜が明瞭に確認できます。
カメラシステム制御ソフトウェア"SightX"
仕様・オプション
対応加速電圧 | ≦ 200 kV |
---|---|
有効画素数 | 19Mピクセル (5,688 ピクセル × 3,336 ピクセル) |
有効センサー寸法 | 36.40 mm × 21.35 mm |
画素サイズ | 6.4 μm × 6.4 μm |
フレームレート | 58 fps / 全画素モード |
記録モード | Image, Video (Stack frame) |
画像フォーマット | L size (5,688 × 3,336)、M size (2,880 × 1,680)、S size (1,248 × 1,200) |
ファイルフォーマット | TIFF (Image, Video)、BMP (Image)、JPG (Image) |
シャッター方式 | グローバルシャッター |
カメラ装着箇所 | ボトムマウント (像観察室下)、非リトラクタブル |
制御ソフトウェア | SightX or TEM Center (JEM-F200, CRYO ARM™200 (JEM-Z200FSC)) |
対応機種: JEM-F200、JEM-2100Plus、JEM-1400、JEM-2100、JEM-2100F、JEM-2200FS、CRYO ARM™200 (JEM-Z200FSC)
* 国立研究開発法人理化学研究所が発明した高密度真空フィードスルー技術 (理化学研究所取得特許:特許第6635605 号) を使った製品 (製造:リード・エレクトロニクス株式会社、株式会社ミスト) を使い、真空内に設置したCMOS センサーからのセンサー信号の取り込みとセンサーへの電源供給を実現しています。
カタログダウンロード
SightSKY (EM-04500SKY) High sensitivity, Low noise fiber coupling CMOS camera
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