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特長

  • Up to 3 W peak power

  • Tight focusing (<40 µm FWHM)

  • Temporal profile from µs to s

  • Remote control of focus position, laser power, pulse duration

  • Extremely compact footprint

  • No sacrifice for the freedom of choice of specimen holders

Luminary Micro is a Compact Specimen Photoexcitation System (CPXS) for JEOL TEMs.
It is composed of a modulated laser, a compact optical delivery system (µODS), an inlet port, and a mirror. With this add-on, users can direct and focus the laser output onto the TEM sample in situ.
The Luminary Micro can induce a rich variety of reactions and dynamic processes in the specimen, thanks to its focus size <40 µm FWHM, adjustable peak power up to 3 W, and the modulated pulse widths ranging from a few microseconds to seconds. With the Luminary Micro, users can study laser-induced phenomena in situ using fast cameras.
Combined with IDES/JEOL EDM fast shutter and/or Relativity subframing systems, Luminary Micro allows users to perform time-resolved studies using pump-probe methods in the microsecond time scale. Its footprint is extremely compact, and it can be easily installed without affecting the TEM resolution, yet it does not sacrifice the freedom of choice of specimen holders.

仕様・オプション

parameters note
wavelength 577 nm (standard) 532, 642, or 780 nm available upon request *
peak power 3 W at 577 nm 2 W at 532, 642, or 780 nm
rise time constant 12.4 µs
fall time constant 5.1 µs
focal length 300 mm on 300 kV TEMs
250 mm on 200 kV TEMs
focus size (FWHM) <40 µm on 300 kV TEMs
<33 µm on 200 kV TEMs
  • Chosen at the time of a purchase order.

 

Applicable model: JEM-ARM300F2, NEOARM*1, JEM-F200, JEM-2100F*2, JEM-2100Plus*2

  • Luminary Micro is available only when a probe Cs corrector is configured.

  • Luminary Micro is not available if a goniometer cover is configured.

ギャラリー

レーザー照射によるカーボンナノ構造の合成

カーボン膜上の鉄微粒子試料を用い、電子顕微鏡観察中にレーザー光を試料に照射することによって、カーボンナノチューブあるいはタマネギ状のカーボンナノ構造が合成されていく動画を、原子分解能レベルで記録されています。
本測定は、当社の米国子会社Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc.により開発された試料へのレーザー照射装置Luminary Microが組み込まれた日本電子製300kV冷陰極電界放出形透過電子顕微鏡JEM-ARM300Fを用いて行われました。Luminary Microを用いれば、試料に対してレーザーの位置や焦点が精密に制御することができます。これにより、レーザーを電子顕微鏡観察視野の局所領域に照射できるのでその場観察実験中においても試料ドリフトを抑えることができ、非常に高い分解能での観察が可能となります。
(データご提供:国立研究開発法人産業技術総合研究所 材料・化学領域ナノ材料研究部門 電子顕微鏡グループ 千賀亮典主任研究員、大阪大学 産業科学研究所 産業科学ナノテクノロジーセンター ナノ構造・機能評価研究分野 末永和知教授)

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