ミクロトームによる断面試料作製

熱ダメージのない断面加工

ミクロトーム

クライオミクロトーム

断面方向からの解析に必要なサンプル作製が可能です。
SEM・SPMに必要とされる平滑な断面を作製できます。研磨剤が混入する心配もなく、熱やビームによる影響も受けません。
温度制御下（室温～-175℃）での加工
クライオミクロトームにより、軟試料・含水試料・凍結試料の断面加工が可能なため、各種クライオ法の前処理に用いることができます。断面加工した凍結試料は液体窒素中で運搬・保存が可能です。

対象となる観察・分析装置

• 走査型電子顕微鏡（SEM）
• クライオ走査電子顕微鏡(Cryo-SEM）
• 電子プローブマイクロアナライザ（EPMA）
• 走査プローブ顕微鏡（SPM）
• 凍結割断レプリカ装置（JFDII）の前処理

高分子材料

• ブレンドポリマーの海島構造
• ゴム中の介在物
• エマルション

複合材料

• はんだ接合部
• 異物の断面
• 単層膜・多層膜

軟質金属

• 結晶方位解析

無機・金属粉末

• トナー
• インク
• 触媒材料