軟X線分析による高温腐食の解析
公開日: 2019/11/07
鉄鋼など金属材料の元素分析においては、400eV~1keV 付近に現れる遷移金属元素L線の高エネルギー分解能信号取得が要求されます。
新しい軟X線分光器 SXES-ERは、上記エネルギー領域を高エネルギー分解能で、かつパラレル信号検出が可能な回折格子、信号検出系を有するX線分光器です。
それを用いて、耐高温腐食材料である Ni基合金の高温腐食初期過程を分析した事例を紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
主催: 日本電子株式会社
開催日/詳細
- 日程:
2019年12月13日(金)16:00~16:30
関連製品
- SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer) 軟X線分光器
- JXA-8530FPlus フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ(FE-EPMA)
- ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)
参加費/定員
- 参加費:
無料 - 定員:
200名
※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。
お申し込み方法
- 以下のURLからお申し込み画面にアクセスしてください。
https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=e75154b6a881a5a46f498667b9f560a02
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お問合せ
- 日本電子株式会社
ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部 企画グループ
担当: 廣川(ひろかわ)・嶋田(しまだ)
TEL: 03-6262-3560
動画
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