XRF最新技術、ヘリウムフリーで液体中の軽元素測定を可能にする"低真空液体試料カプセル"のご提案
公開日： 2023/04/14
XRFで液体中の軽元素を分析する際、試料室をヘリウムで置換し測定が行われています。
しかし、昨今ヘリウムが不足しており、この手法を継続することが難しくなってきています。
そこで今回日本電子では、液体を真空内に保持することが可能な低真空液体試料カプセルを開発しました。
本カプセルを用いることで、ヘリウム置換を行わずに軽元素の高感度検出が可能になりましたので紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
液体試料中の軽元素の分析手法
ヘリウムを使用せずXRFを用いて液体中の軽元素分析を行う方法
ICPのスクリーニングとしてXRFを用いて液中分析を行う方法
参加いただきたいお客様
液体試料中の軽元素の分析を行いたい方
ヘリウム置換法で液中軽元素を分析されている方
ICPのスクリーニングとしてXRFを用いて液中分析を行いたい方
講演者
村谷 直紀
SA事業ユニット
SA技術開発
2グループ
開催日/詳細
2023年5月12日 (金) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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