Close Btn

Select Your Regional site

Close

SEMによる粒子解析 ~解析の種類と使い分け~

公開日: 2023/07/24

SEMによる粉体の測定は、粉体の元素情報を求められる場合と、粉体のサイズや形状情報を求められる場合、大きく2パターンに分かれます。これらは『粒子解析』と呼ばれ、目的に応じて使い分けます。今回の発表では、解析手法の違いによって得られる結果の違いと、測定時の注意点についてご紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

  • SEMにおける粒子解析で得られる結果の種類

  • 粒子解析の処理内容

  • 粉体を測定する際の注意点

参加いただきたいお客様

  • 粉体を解析される方

  • SEMにおける自動測定に興味のある方

  • 粒子解析を導入いただいている方、導入を検討されている方

講演者

神山 亮太

EPアプリケーション部
SEMグループ

開催日/詳細

  • 2023年9月15日 (金) 16:00~17:00

  • 講演後に質疑応答の時間があります。

関連製品

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

JSM-IT510 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡

JSM-IT800 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

発表資料

講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

参加費

無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法

ウェビナーは、終了しました。

動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。

お問い合わせ

日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp

  • [at]は@に、ご変更ください。

動画

お客様情報の入力後に動画ページへ移ります。

SEMによる粒子解析 ~解析の種類と使い分け~

閉じるボタン
注意アイコン

あなたは、医療関係者ですか?

いいえ(前の画面に戻る)

これ以降の製品情報ページは、医療関係者を対象としています。
一般の方への情報提供を目的としたものではありませんので、ご了承ください。

お問い合わせ

日本電子では、お客様に安心して製品をお使い頂くために、
様々なサポート体制でお客様をバックアップしております。お気軽にお問い合わせください。