非導電性試料に対するSEM観察の進め方 PartII ～ケーススタディに基づく帯電対策～
公開日： 2023/12/26
SEMで導電性の低い試料をそのまま観察すると、帯電（チャージアップ）が生じ、正常なコントラストが得られません。このような試料については帯電対策が不可欠ですが、観察目的や前処理の可否により、帯電対策が異なります。本セミナーでは、導電性の低い試料の観察事例をケーススタディ形式で紹介し、適切な帯電対策の選択について基本的な考え方を解説します。
このウェビナーから学べること
適切な帯電対策の選択についての基本的な考え方
非導電性試料のSEM観察におけるケーススタディ
帯電対策の選択に悩んだ時のアプローチ
参加いただきたいお客様
SEMを使い始めた方
電気を通さない試料をSEMで観察している方
帯電対策の選択について迷っている方
講演者
松本 雄太
日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
SEMグループ
第1チーム
開催日/詳細
2024年2月20日 (火) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
JSM-IT510 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お申し込み方法
ウェビナーは終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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