SEM × XRFコラボセミナー ～スクリーニングから詳細解析まで解析事例を紹介します！～
公開日： 2025/06/03
近年の品質管理では、迅速かつ高精度な分析が求められています。その分析手段の一つとして、走査電子顕微鏡（SEM）と蛍光X線分析（XRF）があります。SEMは電子線を用いた局所情報、XRFはX線を用いた平均情報を取得する手法で、これらを上手に併用することで効率的かつ信頼性の高い分析が可能です。
本webinarではSEM、XRFの特長と使い分けに加えて、実機を用いた測定事例を紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
卓上SEMによる非破壊スクリーニング分析と最新の自動測定システム
XRFによる非破壊スクリーニング測定
SEM-EDSとXRFの違い
参加いただきたいお客様
SEMの業務効率アップを希望の方
SEM、XRFをお使いの方
分析サービスに携わる方
講演者
中嶌 香織
日本電子株式会社
SI営業本部
SI販売促進室
村谷 直紀
日本電子株式会社
SA事業ユニット
SA技術開発部
開催日
2025年7月4日 (金) 14:00 ～ 14:35
関連製品
講演録画
後日講演録画を掲載します。掲載の際は弊社電子顕微鏡メールマガジンやSNSにてご案内をいたします。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。
ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「Zoomのテストはこちら」をご覧ください。
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お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
