JEM-ARM200FにおけるTilt-Scan機能の開発とその応用

公開日： 2025/07/24

分割型検出器を用いて試料の電場、磁場分布を可視化するDPC-STEM法は、近年盛んに用いられるようになっています。一方で、DPC-STEM像には結晶性に由来するコントラストが重畳するため、その解析を困難にすることが知られています。
本発表では、DPC-STEM像における結晶性コントラストを減じ、詳細に試料の電場、磁場分布を解析するためにJEM-ARM200FにTilt-Scan機能を新たに実施可能としました。ここでは、TiltScan機能を示し、その応用事例を紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

TiltーScan機能
DPC-STEM

参加いただきたいお客様

材料系TEMユーザー
分割型検出器を使用している方

関連製品

JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡

JEM-Z200MF 無磁場電子顕微鏡

講演者	安原聡日本電子株式会社 SI事業部門 EM事業ユニット EMアプリケーション部
開催日	2025年9月12日(金) 16:00 ～ 17:00
参加費	無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
発表資料	発表資料の配布は行いません。
講演録画	講演録画の後日掲載は行いません。
質疑応答	講演終了後に質疑応答の時間を設けています。ご質問のある方は参加登録フォームの事前質問欄にご記入いただくか、講演当日にZoomのQ&A機能をご利用ください。
お問い合せ	日本電子株式会社デマンド推進本部ウェビナー事務局 sales1[at]jeol.co.jp [at]は＠に、ご変更ください。