透過電子顕微鏡を用いたSTEM観察から分析の実践基礎講座

公開日： 2025/10/21

透過電子顕微鏡によるSTEM観察から分析まで一連の流れを操作方法含めてご紹介します。STEM像の取得や、分析において、どのような条件で観察、分析すればいいのか動画を中心に、どのようなプロセスを用いて決定しているか動画を用いて説明いたします。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

• STEM像取得条件の設定

• 分析条件の設定

• STEM像、分析においての操作方法

参加いただきたいお客様

• STEMや分析の初心者から中級者の方

• うまくSTEM像が取れない方

• どの条件が最適なのかわからない方

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講演者	橋口 裕樹 SI事業部門 EM事業ユニット EMアプリケーション部
開催日	2025年11月21日(金) 16:00 ～ 17:00
参加費	無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
発表資料	講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
講演録画	後日講演録画を過去の動画(ウェビナー一覧)ページに掲載します。 掲載の際はメールマガジンやSNSにてご案内をいたしますので登録/フォローをお願いします。
質疑応答	講演終了後に質疑応答の時間を設けています。 ご質問のある方は参加登録フォームの事前質問欄にご記入いただくか、講演当日にZoomのQ&A機能をご利用ください。
お問い合せ	日本電子株式会社 デマンド推進本部 ウェビナー事務局 sales1[at]jeol.co.jp [at]は＠に、ご変更ください。

お申し込み方法

下記よりお申し込みください。

• 登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。

• ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「Zoomのテストはこちら」をご覧ください。

• 競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。