SEM断面試料作製の実践ガイド～CP加工面に迫る剃刀面出し技法～

公開日： 2025/12/17

走査電子顕微鏡（SEM）は試料表面を観察する装置であり、内部構造の観察には断面作製が重要です。機械研磨やクロスセクションポリッシャ^TM（CP）、集束イオンビーム加工装置（FIB）などの方法では、高価な装置や専門的な前処理が必要です。本ウェビナーでは、剃刀を用いた簡便な断面作製法をご紹介します。紙や金属めっき線を対象に、刃の使い方と断面構造の関係を検討し、試料特性に応じた工夫で目的に適した観察を可能にしました。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

剃刀による簡便な断面作製法
試料特性に応じた剃刀の使い方
断面試料装着アダプター

参加いただきたいお客様

試料内部構造への影響を抑えた断面作製を希望する方
コストを抑えた断面作製を希望する方
SEM観察前の前処理にご興味のある方

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講演者	池谷綾美日本電子株式会社 SI事業部門 EP事業ユニット EPアプリケーション部
開催日	2026年1月30日(金) 16:00 ～ 17:00
参加費	無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
発表資料	講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
講演録画	後日講演録画をウェビナーアーカイブに掲載します。掲載の際はメールマガジンやSNSにてご案内をいたしますので登録/フォローをお願いします。
質疑応答	講演終了後に質疑応答の時間を設けています。ご質問のある方は参加登録フォームの事前質問欄にご記入いただくか、講演当日にZoomのQ&A機能をご利用ください。
お問い合せ	日本電子株式会社デマンド推進本部ウェビナー事務局 sales1[at]jeol.co.jp [at]は＠に、ご変更ください。