最新FE-SEM JSM-IT810で実現する半導体解析
～測長・欠陥解析・材料評価の最前線～

公開日： 2026/01/27

半導体デバイスの微細化が進むなか、欠陥解析・材料評価・測長には、より高分解能で安定した観察が求められています。JSM-IT810は、高分解能観察に加え多様な解析技術への互換性や測長精度の管理など、評価現場のニーズに応えるプラットフォームです。本ウェビナーでは、半導体解析におけるSEM分析手法を解説しつつ、JSM-IT810が提供する自動機能を用いた観察例やエンクロージャーによる環境対策もご紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

• 半導体デバイス評価におけるSEMの基本的な分析アプローチ

• 測長・欠陥解析・材料評価におけるSEMの活用事例

• 品質管理・不良解析を支援するJSM-IT810の主要機能

参加いただきたいお客様

• 半導体デバイスの測長・欠陥解析・材料評価でSEMを活用したい方

• 観察の安定性や測定精度の管理に課題を感じている評価・解析部門の方

• SEMの自動化や効率化に関心があり、装置活用の幅を広げたい方

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講演者	植竹 勇介 日本電子株式会社 SI事業部門 EP事業ユニット EPアプリケーション部
開催日	2026年4月10日(金) 16:00 ～ 17:00
参加費	無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
発表資料	講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
講演録画	後日講演録画をウェビナ－アーカイブに掲載します。 掲載の際はメールマガジンやSNSにてご案内をいたしますので登録/フォローをお願いします。
質疑応答	講演終了後に質疑応答の時間を設けています。 ご質問のある方は参加登録フォームの事前質問欄にご記入いただくか、講演当日にZoomのQ&A機能をご利用ください。
お問い合せ	日本電子株式会社 デマンド推進本部 ウェビナー事務局 sales1[at]jeol.co.jp [at]は＠に、ご変更ください。

お申し込み方法

下記よりお申し込みください。

• 登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。

• ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「Zoomのテストはこちら」をご覧ください。

• 競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。