大気非曝露搬送を用いた FIB‑SEM と EBSD による結晶方位制御型 TEM 試料作製法

公開日： 2026/05/27

本ウェビナーでは、FIB‑SEMとEBSDを組み合わせ、事前に結晶方位を特定した上で目的方位からTEM試料を作製するワークフローを紹介します。Air‑Isolation搬送を用いることで、試料傾斜を最小限に抑えたNMC正極材料の高品質なTEM/STEM観察した例をご紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

• 結晶方位を制御したFIB-SEMによるTEM試料作製の実践的なワークフロー

• 電池材料など嫌気性材料の大気非曝露搬送及び非曝露解析法

• EBSDによる位置決めを活用した高品質なTEM/STEM解析を行う方法

参加いただきたいお客様

• 嫌気性材料のTEM解析を行う電池分野の研究者

• 結晶方位制御に基づくTEM試料作製に関心のあるFIB‑SEM／EBSDユーザー

• 実用的なAir‑Isolationワークフローを求めるTEM試料作製技術者

関連製品

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

講演者	門井 美純 日本電子株式会社 SI事業部門 EP事業ユニット EPアプリケーション部
開催日	2026年7月3日(金) 16:00 ～ 17:00
参加費	無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
発表資料	講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
講演録画	後日講演録画をウェビナ－アーカイブに掲載します。 掲載の際はメールマガジンやSNSにてご案内をいたしますので登録/フォローをお願いします。
質疑応答	講演終了後に質疑応答の時間を設けています。 ご質問のある方は参加登録フォームの事前質問欄にご記入いただくか、講演当日にZoomのQ&A機能をご利用ください。
お問い合せ	日本電子株式会社 デマンド推進本部 ウェビナー事務局 sales1[at]jeol.co.jp [at]は＠に、ご変更ください。

お申し込み方法

下記よりお申し込みください。

• 登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。

• ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、初めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「Zoomのテストはこちら」をご覧ください。

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