大収束角走査透過電子顕微鏡の紹介

公開日： 2026/09/15

収差補正装置を搭載した走査透過電子顕微鏡（STEM）は高い空間分解能を有し、材料科学をはじめとする幅広い分野で利用されています。本ウェビナーでは、新型収差補正装置を搭載したSTEMを紹介します。高次収差の補正によりロンチグラムのフラットエリアが拡大し、像形成に利用可能な収束角が増加しています。これにより、特に低加速電圧において高い空間分解能を実現します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

大収束走査透過電子顕微鏡の効果
大収束走査透過電子顕微鏡を使った高分解能観察例、分析例

参加いただきたいお客様

電子顕微鏡を利用されている方
高分解能観察・低加速電圧での観察に興味がある方

関連製品

GRAND ARM™ 3 原子分解能分析電子顕微鏡

講演者	小井沼厳日本電子株式会社 SI事業部門 EM事業ユニット EMアプリケーション部
開催日	2026年11月13日(金) 16:00 ～ 17:00
参加費	無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
発表資料	発表資料の配布は行いません。
講演録画	講演録画の後日掲載は行いません。
質疑応答	講演終了後に質疑応答の時間を設けています。ご質問のある方は参加登録フォームの事前質問欄にご記入いただくか、講演当日にZoomのQ&A機能をご利用ください。なお、質疑応答では、本ウェビナーの内容に関するご質問を中心にお受けいたします。その他のお問い合わせにつきましては、別途お問い合わせ窓口よりご連絡ください。
お問い合せ	日本電子株式会社デマンド推進本部ウェビナー事務局 sales1[at]jeol.co.jp [at]は＠に、ご変更ください。