SEMを“観察”だけで終わらせない
～分析の幅を広げる「アタッチメントの世界」～

公開日： 2026/10/05

近年、複合的な分析が求められる中で、SEMの役割も広がっています。本発表では、EDSやEBSDに加え、引張や充放電などの外部刺激による変化を捉える「その場観察」も取り上げ、SEM活用の幅を広げるアタッチメントを紹介します。

本セミナーは、WEB上で視聴期間限定のオンデマンド形式で開催いたします。視聴期間内であればお客様のご都合に合わせていつでもどこでもご視聴いただけます。皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

• 最新FE-SEMでできること

• 分析の幅を広げる各種アタッチメント

• In-situ複合解析事例

参加いただきたいお客様

• SEMユーザーやSEM導入ご検討中の方

• EDSをはじめとするアタッチメントにご興味のある方

• In-situ測定にご興味のあるお客様

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講演者	松本 雄太 日本電子株式会社 SI事業部門 EP事業ユニット EPアプリケーション部
開催日	2026年10月21日(水) ～ 10月23日(金)
参加費	無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
発表資料	講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
講演録画	講演録画の後日掲載は行いません。
質疑応答	講演終了後の質疑応答は行いません。
お問い合せ	日本電子株式会社 デマンド推進本部 ウェビナー事務局 sales1[at]jeol.co.jp [at]は＠に、ご変更ください。

お申し込み方法

下記よりお申し込みください。

• 登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。

• ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「Zoomのテストはこちら」をご覧ください。

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