JSM-IT300HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JSM-IT300HRはJEOL InTouchScope™シリーズのニューモデルです。
新開発の高輝度電子銃とレンズ系を搭載したことにより、驚きの高画質観察と高感度・高空間分解能を実現しました。
InTouchScope™シリーズで好評の快適な操作性はそのままに、優れたパフォーマンスを発揮する最新鋭の走査電子顕微鏡です。

特長

驚きのパフォーマンス

動画紹介

快適な操作性　高輝度電子銃搭載により観察から分析まで調整作業が最小限

分析条件（作動距離：10mm　照射電流：1nA）でも10万倍の画像がクリアーに取得できます。

一般的なW-SEM

観察条件では鮮明な10万倍の画像が(左)、分析条件にすると、ぼやけてしまいます(右)。

×100,000　観察条件(1pA)　 試料: Au粒子

×100,000　分析条件(1nA) 　試料: Au粒子

JSM-IT300HR

JSM-IT300HRは、分析条件でも鮮明な画像が見られます。

観察　低加速電圧や低真空モードの観察が容易

×50,000～×100,000のような高い倍率でも高画質で観察できるため、微細な構造を確認できます。

低加速電圧

• チャージ軽減
• 熱ダメージ軽減

試料：セルロースナノファイバー(CNF)　導電処理なし
加速電圧1 kVでも繊維1本1本の太さが分かる高倍率で観察できます。
加速電圧：1 kV、倍率：×30,000
高真空モード 二次電子像

試料ご提供：
京都大学　生存圏研究所　生物機能材料分野
矢野 浩之 様、阿部 賢太郎 様

低真空モード + 低加速電圧

• チャージ軽減
• ビームダメージ軽減
• 高空間分解能

試料：ブルーライトカットグラス断面（集束イオンビーム加工観察装置JIB-4000：FIBによる断面加工）
低真空機能を利用する事で絶縁物を導電処理せずに観察できます。
加速電圧：3 kV、倍率：×50,000
低真空モード 反射電子組成像

元素分析　ACL（開き角最適化レンズ）搭載によりサブミクロン領域の元素分析が容易

より簡単で迅速なデータ取得

• InTouchScopeシリーズの特長であるタッチパネル機能により、タブレット感覚で直感的な操作が可能です。
• JEOLグループのノウハウを詰め込んだ標準レシピ機能は、様々な分野の観察条件を準備しています。 標準レシピからデータを取得したい試料を選択するだけで、あらゆる試料の観察・分析条件が自動的に設定される便利な機能です。
• ステージナビゲーションシステム（オプション）を組み込むことにより、視野探しがとても簡単に行えます。CCDカメラで撮影したカラー画像上でダブルクリックすると、その位置にステージが高速移動します。 肉眼で観察位置を確認しているような感覚で視野探しが行えます。

関連リンク

ニュースリリース

新型走査電子顕微鏡JSM-IT300HRを販売開始　―新開発の高輝度電子銃とレンズ系による高性能SEM―

セミナー

2016年12月16日（金）　走査電子顕微鏡JSM-IT300HR プレミアセミナー（西日本ソリューションセンター）

アプリケーション

JSM-IT300HRに関するアプリケーション

SEM-EDSによる金属部品の広域測定

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