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トナー(非導電性試料) W-SEM vs FE-SEM  二次電子像

化学/プラスチック・高分子

トナーは数µm程度の粒子で構成され、その粒子の表面には顔料や添加剤などの微粒子が付着しています。この微粒子がトナーの性能に大きな影響を与えることが知られています。トナーは非導電性試料であるため、低入射電圧での観察や導電性材料でのコーティングなど、帯電対策が不可欠です。 トナーをコーティングせずにW-SEM(JSM-IT210)を用いて低入射電圧で観察したところ、数ミクロン(µm)のトナーのサイズは確認できますが、トナー表面の微粒子を鮮明に観察することは困難です。対して、FE-SEM(JSM-IT800)で同条件で観察したところ、トナー形状を鮮明に観察でき、トナー表面に微粒子が付着していることも確認できました。

アプリケーション 二次電子像
撮影倍率 x10,000
撮影条件 入射電圧 0.8 kV,高真空モード
関連情報 SEMの帯電現象 (チャージアップ) を抑制する
関連製品 JSM-IT210走査電子顕微鏡
JSM-IT800ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
受託分析

関連データ

トナー(非導電性試料)の観察 二次電子像

トナー(非導電性試料) 二次電子像

クライオ観察 クライオTEM法

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