経験豊富なスペシャリストが、自社製の装置を使用してご依頼に対応いたします

未知物質の定性分析においては、ハードイオン化により得られるフラグメントイオンからの構造情報と、ソフトイオン化により得られる分子イオンからの分子量情報を組合わせることにより、より確度の高い物質の同定、構造解析が可能となります。
また、DARTイオン源により様々な形態・状態の試料を前処理無しで直接分析も可能です。

お客様のご要望に沿った各種プランをご提案いたしますので、分析内容の有無、価格、納期も併せて是非ともご相談ください。

対応できるイオン化法

直接導入法による精密質量測定、元素分析や構造解析を行う測定

  • エレクトロスプレーイオン化 (ESI) 法
  • Direct Analysis in Real Time (DART)注) 
    注) 様々な形態・状態の試料を前処理無く若しくは簡便に直接分析が可能
  • 電子イオン化 (EI) 法
  • 電界脱離イオン化 (FD) 法
  • マトリックス支援レーザー脱離イオン化 (MALDI) 法
  • 高速原子衝撃 (FAB) 法


その他ソフトイオン化での測定もご相談の上対応可能です。
 

各種イオン化法の適応範囲

各種イオン化法の適応範囲

特定対象物質の測定

高性能四重極型質量分析計(GC/QMS)を用いた測定

  • フタル酸エステル類のスクリーニング分析
  • スニッフィング (臭い嗅ぎ) 分析
  • 絶縁油中のPCBs分析

分析例

液晶成分の分子イオン観測

分析例
図1. EI、CI、FD法により得られた質量スペクトル

表1. 精密質量測定結果
イオン 実測値 理論値 誤差(mmu) 組成推定式 不飽和数

m/z 830

830.4864

830.4864

-0.6

C52H66N2O7

21

EI 法、CI 法で分子イオンが確認出来なかった液晶成分を、FD 法にて測定することで分子イオンを確認することが出来た。さらに PEG600 を質量校正用内部標準物質として使用することで、液晶成分の精密質量を得ることが出来た。

質量分析(MS)

SI営業本部 ソリューション推進室 受託分析推進グループ

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