SEMによる粒子解析と相分析：材料評価・異物分析を加速する最新アプローチ
公開日： 2026/04/13
本ウェビナーでは、走査電子顕微鏡（SEM）における粒子解析および相分析について、その概要と実際の活用事例をご紹介します。
近年、材料開発・品質管理の現場では、異物分析の手法の一つとして、粒子の形状評価、粒径分布解析、組成相の判別と可視化など、多様なデータを迅速に処理することが求められています。今回ご紹介するソフトウェアは、SEM画像を元にした自動粒子検出、形状パラメータの定量化、EDSと連携した相分析など、従来の手作業を大幅に効率化する機能を搭載しています。
ウェビナーの後半では、本ソフトウェアを最大限活用するために必要となる周辺機器についてもご説明します。
また、本ウェビナーではご視聴頂いた方限定で特典のご案内もございます。
SEM解析の精度向上や効率化を検討されている方、粒子解析・相分析の自動化に関心のある皆様にとって、有益な情報をお届けする内容となっています為、是非ご参加下さい。
本セミナーは、WEB上で視聴期間限定のオンデマンド形式で開催いたします。視聴期間内であればお客様のご都合に合わせていつでもどこでもご視聴いただけます。皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
粒子解析ソフトの内容
相分析ソフトの内容
上記ソフトを活用する際の周辺装置について
参加いただきたいお客様
SEMで異物分析を検討/実施している方
粒子解析にご興味ある方
相分析にご興味ある方
関連製品
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講演者 |
西岡 泰雅 日本電子株式会社 
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松倉 大輔 日本電子株式会社 
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開催日 |
2026年6月24日(水) ～ 6月26日(金) |
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参加費 |
無料 |
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発表資料 |
発表資料の配布は行いません。 |
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講演録画 |
講演録画の後日掲載は行いません。 |
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質疑応答 |
講演終了後の質疑応答は行いません。 |
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お問い合せ |
日本電子株式会社
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お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
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お申し込みいただいた方には、開催日の約3日前を目安に、動画視聴ページのご案内をお送りいたします。ご案内までお待ちくださいますようお願い申し上げます。
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競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。
