日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツ共同開催
SEM & ナノインデンター「ワークショップ2026」
公開日： 2026/05/28
恒例となりましたジョイントセミナーを、今年度はワークショップ形式で開催いたします。オックスフォード・インストゥルメンツからは、昨年度にスタートしたSEM用ナノインデンターをメインに、インデンター/EBSDのデータ相互性とin-situ EBSDのご紹介を行います。日本電子からは、インデンターを搭載する高性能&ハイスループットSEMと、インデンター試料作成にも使用されるFIB-SEMのご紹介を行います。
当日は FE-SEM “JSM-IT710HR”の試料室内に、ナノインデンター“NMT04”を設置したLiveデモンストレーションを実施いたします。本セミナーは現地開催のみとなります。実機デモを見学頂ける貴重な機会となっておりますので、ぜひご参加ください。
このセミナーから学べること
最新のSEM、FIB-SEMを用いたナノインデンターのアプリケーションのご紹介
ナノインデンターの実機デモンストレーション
参加いただきたいお客様
nm～µmサイズの材料力学特性にご関心のSEM経験者
金属、非金属の物性評価に興味のある方
EBSDとナノインデンターの複合解析に興味のある方
ナノインデンターを搭載するSEM、FIB-SEMの条件を知りたい方
関連製品
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開催日 |
2026年7月15日(水) 13:00～16:30 |
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参加費 |
無料 |
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会場 |
日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター |
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定員 |
24名(予定)
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お問い合せ |
日本電子株式会社
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プログラム
| 時間 | 講演/実演内容 | 講演者 |
|---|---|---|
| 12：30～13：00 |
受付開始 |
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| 13：00～13：30 |
FIB-SEM JIB-PS500iの紹介 |
日本電子株式会社 |
| 13：30～14：00 |
高性能&ハイスループットSEM |
日本電子株式会社 |
| 14：00～14：30 |
“見ながら押す”In-SEM Nanoindenterのご紹介 |
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 |
| 14：30～14：45 |
休憩 |
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| 14：45～15：15 |
in-situ EBSD測定とAZtecCrystal新機能のご紹介 |
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 |
| 15：15～16：30 |
実機見学 SEM: JSM-IT710HR / ナノインデンター:NMT04 |
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| 16：30～ |
閉会 |
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お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
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