研究開発用 電子ビーム蒸着装置のご紹介
公開日: 2026/08/06
当社では、主に研究開発用途向けの小型電子ビーム蒸着装置を取り扱っております。
電子ビーム蒸着法では、蒸着材料に電子ビームが照射される際に発生する反射電子によって基板ダメージや昇温が生じ、膜質に悪影響を及ぼすことがあります。
反射電子対策として、基板に到達する反射電子を抑え、膜質を向上させる各種製品も取り扱っております。
本セミナーでは、電子ビーム間接加熱法を用いた新しい蒸着源である『ボンバード蒸着源』、ならびに電子ビーム蒸着法で反射電子影響を抑える『反射電子トラップ』とそれらを用いた電子ビーム蒸着装置をご紹介いたします。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
当社製電子ビーム蒸着装置の特長
反射電子影響を抑えた低ダメージ・低温成膜方法
電子ビーム間接加熱によるボンバード蒸着源の特長と成膜事例
参加いただきたいお客様
薄膜形成 (真空蒸着) をされている方
各種電子デバイス/MEMS等の電極膜の成膜をご希望の方
装置1台で金属/酸化物/フッ化物/有機材など様々な材料の成膜をご希望の方
関連製品
|
講演者 |
菅原 康司
日本電子株式会社
|
|---|---|
|
開催日 |
2026年9月14日(月) 16:00 ~ 17:00 |
|
参加費 |
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。) |
|
発表資料 |
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。 |
|
講演録画 |
後日講演録画をウェビナ-アーカイブに掲載します。 |
|
質疑応答 |
講演終了後に質疑応答の時間を設けています。 |
|
お問い合せ |
日本電子株式会社
|
お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
-
登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。
-
ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「Zoomのテストはこちら」をご覧ください。
-
競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。
