JASIS 2021 (オンライン)

JASIS 2021 (オンライン)

2022年1月17日 (月) ~ 3月15日 (火)

『JASIS2021』が2021年11月8日(月)~11月10日(水)幕張メッセ国際展示場で開催されました。
当日実施したセミナーや新製品情報などを掲載しております。会場に来れなかった方も是非ともご高覧ください。

WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

※ 会期終了に伴い、3月15日 (火)をもって公開を終了しました

ウェビナー (新技術説明会) WEBINAR

「JASIS2021」で実施したセミナーをオンデマンドで配信いたします。

透過電子顕微鏡

TEM_1

新型クライオ電子顕微鏡によるハイスループットデータ取得法のご紹介

新しいクライオ透過電子顕微鏡CRYO ARM 300 IIにおいて実現した高速撮像法をワークフローと共に紹介する。

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講師

細木 直樹

日本電子株式会社
EM事業ユニット
EMアプリケーション部

TEM_2

電子回折統合プラットフォームSynergy-EDを用いた解析事例の紹介

Synergy-EDはデータ取得から解析まで自動で行うシステムである。本発表では解析事例を紹介する。

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講師

青山 佳敬

日本電子株式会社
EM事業ユニット
EMアプリケーション部

TEM_3

高速電子線制御とレーザー照射で実現する新しい透過電子顕微鏡観察手法の紹介

試料に対してのダメージの低減、化学反応、起こる現象を解析するための新しい観察、分析手法を紹介する。

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講師

橋口 裕樹

日本電子株式会社
EM事業ユニット
EMアプリケーション部

走査電子顕微鏡

SEM_1

よくある疑問にお答えします! ~ 試料作製から始めるSEM ~

試料作製はコツがあり、お客様から多数の質問を受けている。特に多かった事案を中心に解説する。

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講師

石野 真友

日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
SEMグループ

SEM_2

SEMスクリーニング最前線~含水試料をSEMで簡便に観るためのメソッド、教えます!~

SEM測定が困難な含水試料を簡便に測定できる観察手法を紹介する。

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講師

中嶌 香織

日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
SEMグループ

電子プローブマイクロアナライザー

EPMA_1

ここまでできる。10 ppmオーダー材料組織解析

X線元素マップの相関分析機能による数cmからsub µmサイズの材料組織解析について紹介する。

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講師

塚本 一徳

日本電子株式会社
科学・計測機器営業本部
SI販売促進室

オージェマイクロプローブ

AES_1

観察のその先へ! ~ エネルギーフィルターSEMで電子状態を可視化する ~

バンドギャップやpn接合の仕事関数差など半導体分析に必要な電子状態を簡便に可視化する手法を紹介する。

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講師

伊木田 木の実

日本電子株式会社
SA事業ユニット
SA技術開発部

集束イオンビーム加工観察装置

FIB_1

自動加工で効率的な作業を実現 "FIB-SEMによる自動加工例の紹介"

本システムでは自動でTEM試料作製が可能。複数視野での加工にも対応しており効率的な作業が実現できる。

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講師

柴田 昌照

日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
FIBグループ

質量分析計

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材料分析のトップランナーが語る!質量分析の基礎と高分子材料分析での効果的な活用術

質量分析は高分子材料分析において強力なツールです。しかし、質量分析には様々な手法があるため目的に合わせた選択が必要です。本講演では、質量分析の基礎から高分子材料分析への応用まで分かりやすく解説します。

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講師

佐藤 貴弥

日本電子株式会社
MS事業ユニット
MSアプリケーション部

MS_2

続! これで貴方もプロ♪ GC-MS定性解析のコツを教えます!

整数質量・精密質量マススペクトルを用いたGC-MS定性解析のコツ・ノウハウのレクチャーと、最新の分析手法・ソフトウェアに関する説明を行う。

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講師

生方 正章 / 窪田 梓

日本電子株式会社
MS事業ユニット
MSアプリケーション部

MS_3

最新のGC/QMSが実現する「一分でも早く帰りたい人」のための定量分析ソリューション

最新のGC/QMSを利用することで実現できる測定業務効率化のための定量分析ソリューションについて紹介する。

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講師

阿部 吉雄

日本電子株式会社
MS事業ユニット
MSアプリケーション部

MS_4

においを科学します!! 加熱脱着を用いた最新の香気分析テクニックをご紹介

加熱脱着装置を用いた、VOCやSVOCなどの微量成分の分析テクニックや最新の濃縮手法をご紹介いたします。

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講師

榎本 剛司

日本電子株式会社
テクニカルサポート本部
MS技術サポート部

MS_5

新規に開発した高感度イオン源を食品中残留農薬の高速GC-MS/MS分析に適用してみました

新規に開発した高感度イオン源を用いて食品中残留農薬のFast GC-MS/MS分析へ適用した結果を紹介する。

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講師

小沼 純貴

日本電子株式会社
MS事業ユニット
MSアプリケーション部

MS_6

複雑な材料分析もこれで解決! 究極のマルチイオン化-未知物質解析システム

液体固体問わずあらゆる材料をGC-MSで分析、ライブラリー未登録物質も自動解析可能なシステムを紹介する。

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講師

生方 正章

日本電子株式会社
MS事業ユニット
MSアプリケーション部

MS_7

ポリマー分析はこれで解決!MALDI-TOFMSの基礎と進化を続けるSpiralTOF™-plus活用方法

MALDI-TOFMSを用いたポリマー分析の基礎と性能が向上したSpiralTOF™-plusの活用事例について紹介する。

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講師

橋本 将宏

日本電子株式会社
MS事業ユニット
MSアプリケーション部

核磁気共鳴装置

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多様なNMR測定をより身近に

お持ちの試料にこのような測定はいかがですか?多様なNMR測定がより身近になる情報をお届けします。

※ こちらの講演内容は本年の「分析機器NMRユーザーズミーティング」で同様の講演をいたしますので配信は行いません。ご聴講希望の方はぜひともNMRユーザーズミーティング (オンライン) へお申し込みください。配信期間:2022年3月1日 (火) ~ 3月31日 (木)

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講師

蜂谷 健一

株式会社JEOL RESONANCE
技術部
開発グループ

NMR_2

ポリマー試料の溶液NMR測定時の基礎知識と応用測定法の紹介

本発表では溶液NMRでポリマー試料を測定する際のスペクトルの傾向や応用測定法を紹介する。

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講師

吉田 恵一

株式会社JEOL RESONANCE
技術部
アプリケーショングループ

NMR_3

シンプル・便利・ユニークなワークスペース!新しいNMR解析ツールをJEOLから

NMR解析に新しい作業性とコミュニティを提供する次世代の解析ソフトウェア"JASON"を紹介する。

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講師

末松 孝子

株式会社JEOL RESONANCE
経営企画室
商品企画グループ

電子スピン共鳴装置

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電子スピン共鳴 (ESR) 法による分析-基礎と応用-

電子スピン共鳴 (ESR) による分析法の基礎と応用について高分子材料やその他の試料を用いてご紹介します。

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講師

島田 愛子

株式会社JEOL RESONANCE
技術部
アプリケーショングループ

YOKOGUSHI アプリケーションパネル YOKOGUSHI APPLICATION PANEL

会場で展示した分野別に特化したアプリケーションパネルを掲載しています。ご登録後にご覧いただけます。

食品

食品関連の様々な分析と多彩なアプローチ

食品分析ソリューション ~ オイルに関わる分析の新提案 ~

食品分析ソリューション  ~ オイルに関わる分析の新提案 ~

食品分析ソリューション ~ おいしさ評価 ~

食品分析ソリューション  ~ おいしさ評価 ~

環境

最新の分析装置で地球環境の保全に貢献します!

最新の分析装置で地球環境の保全に貢献します!

最新の分析装置で地球環境の保全に貢献します!

医薬品

ぶんせきで医療をサポート - インスリン由来アミロイドーシス -

多層的構造解析が次世代の臨床検査を拓く - 線維状インスリンを例に - ①

多層的構造解析が次世代の臨床検査を拓く - 線維状インスリンを例に - ①

多層的構造解析が次世代の臨床検査を拓く - 線維状インスリンを例に - ②

多層的構造解析が次世代の臨床検査を拓く -  線維状インスリンを例に - ②

触媒

in situ TEM & MS 触媒挙動観察

超高圧透過電子顕微鏡と四重極質量分析計の融合
- 構造解析から機能解析へ -

超高圧透過電子顕微鏡と四重極質量分析計の融合 -  構造解析から機能解析へ -

高分子

バイオエコノミー社会実現に向けた材料評価技術

サステナブルマテリアルの工業的利用に向けた特性評価
~ 漆膜の耐熱性評価 ~

サステナブルマテリアルの工業的利用に向けた特性評価 ~ 漆膜の耐熱性評価 ~

CLEM 光・電子相関顕微鏡法

光と電子の融合 ~ 材料からバイオまで ~

CLEM Solutions ~ CLEM ソリューション ご紹介 ~

CLEM Solutions ~ CLEM ソリューション ご紹介 ~

CLEM Applications

CLEM Applications

電池

全固体電池・LIBの解析

全固体電池の分析ソリューション
- All Solid State Battery Analysis Solution -

全固体電池の分析ソリューション

Lithium ion Battery 充放電前後の評価

Lithium ion Battery 充放電前後の評価

非曝露搬送対応 加工・観察・分析装置 Air Isolation Cycle

非曝露搬送対応 加工・観察・分析装置 Air Isolation Cycle

新製品紹介 NEW PRODUCTS

JASISで発表した新製品のカタログはカタログダウンロードページに掲載しています。

JSM-IT510 InTouchScope™
走査電子顕微鏡

走査電子顕微鏡 (SEM) は研究だけでなく、品質保証や製造現場で欠かせないツールなっています。
そのような現場では、同じ観察作業を繰り返し行う必要があり、工程の効率化が求められてきました。

JSM-IT510は新たに加わったSimple SEM機能では、従来SEM観察に必要とされたマニュアルによる繰り返し作業を 「おまかせ」 出来ます。SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。

JSM-IT510 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta
ガスクロマトグラフ四重極質量分析計

UltraQuad™ SQ-Zetaは、今まで培った匠の技術を踏襲し、さらに機能アップさせた新世代ハイエンドGC-QMSシステムです。JEOL製QMSの特長である大型双曲電極、大型TMPはそのままに、装置制御システムならびにイオン検出器周辺を改良することにより、データ取得効率アップとノイズ低減を達成し、装置検出限界IDL<5 fgを保証いたします。
さらに、高性能EIイオン源の選択により、更なる高感度分析 (IDL<1 fg) を実現しました。高感度化により、従来のSIM法と同等の定量分析をスキャン法で実現することが可能となり、測定の簡便化につながります。

統合定性解析ソフトウェア "msFineAnalysis iQ" は、EIスペクトルとソフトイオン化スペクトルから自動的に同定確度の高い解析を行うことができます。さらに、デコンボリューション機能、二者比較分析機能なども併せ持つGC-MS分析における統合定性解析ソフトウェアです。

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta ガスクロマトグラフ四重極質量分析計

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0
マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計

JEOL独自のSpiralTOFイオン光学系を備えた超高質量分解能MALDI-TOFMS システムです。SpiralTOF™-plusはバージョン2.0へと進化し、分子量分布をもつポリマー分析やマスイメージング等に威力を発揮する広い質量範囲での高質量分解能・高質量精度と広いダイナミックレンジを兼ね備えています。従来装置とは一線を画する特長で、分析技術の最先端をリードし、合成高分子・材料科学・ 生体高分子などの幅広い分野で日々変化していく研究ニーズにお応えします。

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0 マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計

NMR spectrometer ECZ Luminous (JNM-ECZLシリーズ)
FT NMR装置

ECZ Luminousは、日本電子の最先端高周波制御技術 STS (Smart Transceiver System) の性能を最大限に引き出した、世界最高性能を誇るNMR分光計です。
高集積化技術の粋を尽くしたNMR分光計は、世界最高性能でありながら、世界最小の筐体体積 (ECZ Luminous R series) を実現しました。また、新開発のMFDS (Multi-Frequency Drive System) は、2ch分光計でありながら、定評のあるHFXだけでなく、HCNやHPXなどの多彩な測定に対応。ECZ Luminousのラインナップは、すべての機能拡張にお応えする「Grand」モデル、600 MHz~400 MHzの溶液 / 固体測定が可能な標準機「Research」モデル、400 MHzの溶液測定に特化したエントリー機「Solution」モデルの3つで、皆様のNMR分析をお支えします。

NMR spectrometer ECZ Luminous (JNM-ECZLシリーズ) FT NMR装置

Synergy-ED
極微小単結晶構造解析プラットフォーム

Synergy-EDは、電子線を用いて分子の三次元構造を可視化する、測定から解析までのシームレスなフローを実現したこれまでにない全く新しい電子回折計です。
株式会社リガクの超高感度高速検出器「HyPix-ED」および単結晶構造解析用ソフトウェア「CrysAlisPro for ED」と、日本電子の透過形電子顕微鏡で培った技術を組み合わせた成果であり、製品名にもある通り、両社のコア技術のシナジーによるものです。
測定サンプル (ナノ結晶) の選別からデータ収集、解析までのフローを一体化することで、従来必須とされる電子顕微鏡と結晶学の専門知識が無い非専門家にも、電子回折を手軽に利用できる分析装置として実現いたしました。

Synergy-ED 極微小単結晶構造解析プラットフォーム

お問い合わせ CONTACT

日本電子株式会社
デマンド推進本部 企画部 イベントグループ
jeol_event[at]jeol.co.jp
※ [at]は@に、ご変更ください。