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ペロブスカイト太陽電池基板の割断面 反射電子像

電池/資源・エネルギー/ガラス・セラミック

次世代の太陽電池として、注目されているペロブスカイト太陽電池基板の割断面になります。高い発電効率を実現するには、基板の各層の設計が重要であり、その確認には、SEMやEDSを用いた解析が必要です。本測定では、基板を割断し、蒸着をせずにそのまま観察と分析を行いました。 試料構造は上部から、Au層・有機層・ペロブスカイト層・正孔輸送層・FTO層・ガラス層の計6層となっており、SEM像では、割断時の割れ方の違いにより、各層が識別できる形となっています。
試料は、東京大学 先端科学技術研究センターの内田 聡 先生からご提供頂きました。

アプリケーション 反射電子像
前処理 割断
撮影倍率 x50,000
撮影条件 入射電圧:5kV,高真空モード
関連製品 JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡
JED-2300T エネルギー分散形X線分析装置

関連データ

ペロブスカイト太陽電池基板の割断面 エネルギー分散型X線分光法(EDS)

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