超薄切片

thin section

[目次：試料作製]

ウルトラミクロトームなどで薄くスライスした試料の切片。多くの場合、厚さは100 nm以下である。SEMでは、透過電子像（STEM像）もしくは反射電子像で観察する。透過電子像で観察する場合、試料はTEM用グリッドに載せる。反射電子像で観察する場合、試料はシリコン基板やガラス基板に載せる。反射電子像のコントラストを反転させることで、透過電子像と同様のコントラストを得ることができる。

“Thin section” means a section of a specimen thinned with an ultramicrotome. The thickness of a thin section is 100 nm or less. Using SEM, the thin section is observed with a transmitted electron image or a backscattered electron image. For the observation of the transmitted electron image, the specimen is mounted on a specimen grid for TEM. For the observation of the backscattered electron image, the specimen is mounted on a silicon substrate or a glass plate.
It is noted that when the contrast of the backscattered electron image is reversed, a similar contrast to the transmitted electron image is obtained.
 

関連用語から探す