SEMICON® Japan VIRTUAL
公開日： 2020/12/01
弊社は、「SEMICON® Japan Virtual」に出展いたします。
故障解析やプロセス開発用途として使用される電子顕微鏡をはじめとした各種、理科学・計測機器や、リソグラフィー用途として使用される電子ビーム描画装置の展示を行ないます。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。
オンライン会場への入場につきましては、公式サイトの参加申し込みページより申し込みをお願いいたします。
主催:SEMI (Semiconductor Equipment and Materials International)
公式サイト
開催日/会場
- 日程:
2020年12月11日(金)～12月18日(金)
※2021年1月15日まで展示ブースへのアクセス、録画視聴が可能です。 - 会場:
オンライン開催
申し込み方法
こちらから参加申し込みください(外部サイトに移行します)。
展示内容
故障解析・プロセス開発用途製品
- JEM-ACE200F ハイスループット解析電子顕微鏡
- JSM-IT800 電界放出形走査電子顕微鏡
- JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡
- JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置
- JMS-MT3010HRGA INFITOF 多重周回飛行時間質量分析計
リソグラフィー
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 企画部 イベントグループ
e-mail: jeol_event[at]jeol.co.jp ※[at]は@にしてください
