SEM観察 断面作製からデータ解析まで ～精度の高いデータは良質な前処理から・相分析のご紹介～
公開日： 2025/07/25
SEM測定のワークフロー（前処理/観察/後解析）を解説するウェビナーを開催します。前処理では断面作製の基礎、観察では良好な前処理試料をより簡便かつ詳細観察できるSEM、後解析では元素マップ情報を用いた相分析を、それぞれ紹介します。また、本ウェビナーでは9月開催のJASISで発表予定の特典を先行でご案内します。新規/既存のお客様問わず、装置導入や運用の参考に、是非ご参加ください。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
前処理からSEM観察・分析の一連の流れ
相分析ソフトの内容
参加いただきたいお客様
SEM、CPをこれから深く活用されたい方
相分析にご興味ある方
関連製品
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講演者 |
中嶌 香織 日本電子株式会社 
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開催日 |
2025年8月20日(水) 10:00 ～ 11:00 |
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参加費 |
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。) |
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発表資料 |
発表資料の配布は行いません。 |
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講演録画 |
講演録画の後日掲載は行いません。 |
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質疑応答 |
講演終了後の質疑応答は行いません。 |
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お問い合せ |
日本電子株式会社
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お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
- 登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。
- ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「Zoomのテストはこちら」をご覧ください。
- 競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。
