業務効率化UPに！SEM測定の自動化とSEM前処理加工装置のご紹介～半導体試料への活用～
公開日： 2026/04/21
SEM測定は条件設定や試料準備に時間を要します。本発表では、半導体試料への活用例の一つとして、前半ではSEMに搭載された自動測定機能により、データ取得からレポート作成までを無人化し、働き方改革やオペレーター不足の解消に貢献する手法を紹介します。後半では、イオンビーム断面加工装置を用いたSEM前処理の省力化と再現性向上について紹介します。
本セミナーは、WEB上で視聴期間限定のオンデマンド形式で開催いたします。視聴期間内であればお客様のご都合に合わせていつでもどこでもご視聴いただけます。皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
最新SEMの自動測定システム
最新のブロードArイオンビームを使用した断面試料作製装置
半導体試料に対するSEM/断面試料作製装置の活用事例
参加いただきたいお客様
SEMの業務効率アップを希望の方
ブロードArイオンビームを使用した断面試料作製装置に興味のある方
半導体関連資料を解析/分析されている方
関連製品
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講演者 |
茨城 周平 日本電子株式会社 
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開催日 |
2026年6月3日(水) ～ 6月5日(金) |
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参加費 |
無料 |
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発表資料 |
発表資料の配布は行いません。 |
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講演録画 |
後日講演録画をウェビナ－アーカイブに掲載します。 |
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質疑応答 |
講演終了後の質疑応答は行いません。 |
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お問い合せ |
日本電子株式会社
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お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
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お申し込みいただいた方には、開催日の約3日前を目安に、動画視聴ページのご案内をお送りいたします。ご案内までお待ちくださいますようお願い申し上げます。
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