卵殻 粒径解析 反射電子像
生物・生命化学／食品・植物
CROSS SECTION POLISHER™ (CP)とSEMを用いて得た卵殻膜の断面画像から、卵殻膜中に含まれる無数の気孔が観察でき、さらに粒径解析を行うことで、統計的に計測することが可能となります。
| アプリケーション | 反射電子像 |
|---|---|
| 前処理 | CP(クライオCP含む) ／ コーティング ／ 断面ミリング(SEM試料作製) |
| 撮影倍率 | x250, x5000 |
| 撮影条件 | 入射電圧：5kv、雰囲気：高真空、検出器：BED-C、作動距離：9 mm |
| 関連製品 | JSM-IT700HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡 JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡 IB-19520CCP 冷却クロスセクションポリッシャ™ 断面試料作製装置 受託分析 |
