広域エネルギー損失微細構造

extended energy-loss fine structure, EXELFS

[目次：分光分析(EELS／EDS／電子構造)]

EELSの内殻電子励起スペクトルにおいて、吸収端から高エネルギー側に約40～200eVの広い領域にわたって現れる微細構造。内殻準位から伝導帯に励起された電子が最隣接原子によって散乱されるために生じるもので、これをフーリエ変換すると原子の局所的な配置に関する情報が得られる。X線の場合のEXAFSに対応するものである。

A fine structure appearing in an energy region of about 40 to 200 eV above the absorption-edge energy in the EELS core-loss spectrum. This structure is called "extended energy-loss fine structure (EXELFS)." The EXELFS is produced due to the scattering of electrons, which are excited from the inner-shell state to the conduction band (unoccupied state), by the adjacent atoms. When the EXELFS spectrum is Fourier-transformed, information on local atomic arrangements is obtained. EXELFS corresponds to EXAFS in X-ray spectroscopy.

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