弱位相物体近似

weak phase object approximation

[目次：理論(電子の散乱／回折／結像)]

HREM像の解釈に用いられる近似。試料に入射した電子波が振幅を変えずに位相だけを僅かに変化するとみなす近似。軽い原子で構成されている非常に薄い試料に対してはよく成り立つ。この場合、シェルツァー・フォーカスで得られる結晶構造像は結晶の投影ポテンシャルを表わしているとみなせる。試料が厚い場合は、多重散乱を取り入れた動力学的回折を適用して像の解釈をする必要がある。

An approximation that is used for interpreting an HREM image. A specimen is regarded as an object that does not change the amplitude of the incident electron wave but slightly changes the phase of the wave. This approximation holds well for a very thin specimen composed of light atoms. In this case, a structure image obtained at Scherzer focus exhibits the projected potential of a crystal. When the specimen is thick, image interpretation is necessary by applying dynamical diffraction that takes account of multiple scattering.

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