明視野像

bright-field image

対物レンズの後焦点面上に形成される回折図形中の透過波（試料で回折を受けずに透過してきた波）を対物絞りで選んで結像した像。回折を起こしている場所は暗く、回折を起こしていない部分は明るく見える。暗視野像とともに、試料の格子欠陥の解析や試料の膜厚測定に利用される。

FeAl合金の結晶欠陥（転位線）の明視野像⇒図
転位線以外の場所がブラッグの回折条件を満たすようにして撮られている。転位のひずみによって転位線のところは回折条件から外れるため、暗く見えている。転位線がギザギザのコントラストに見えるのは、転位の試料の深さ方向に依存する動力学的回折効果である。

An image that is produced by the transmitted wave (the wave that undergoes no diffraction) in a diffraction pattern formed on the back focal plane of the objective lens, using the objective aperture. In the image, a location where diffraction takes place appears dark, whereas a location where diffraction does not take place appears bright. The bright-field image, together with the dark-field image, is used for analysis of lattice defect and measurement of specimen thickness.

Fig. Bright-field image of lattice defects (dislocation lines) in an FeAl alloy. The image was taken in such a way that the distorted area caused by the dislocations does not satisfy the Bragg diffraction condition. Thus, the dislocation lines appear dark. The zigzag contrast of the dislocation lines is created by a dynamical diffraction effect, which depends on the depth of the dislocations in the specimen.