scan

例文：

In the STEM mode, the specimen is scanned point-by-point with a small electron beam.

STEMモードでは、試料は小さな電子ビームで一点一点、走査される。

例文：

In an SEM, the electron probe is scanned in a raster over a region of the specimen.

SEMでは、電子プローブは試料のある領域にわたってラスタ走査される。

例文：

A 0.5 to 1 nm probe was scanned across a single unit cell of Ti₂Nb₁₀O₂₉.

0.5～1nm(径)のプローブがTi₂Nb₁₀O₂₉の単一の単位胞にわたって走査された。