暗視野像

dark field image

[目次：理論]

STEM像あるいはTEM像の一つで、試料を透過した電子の内、散乱・回折した電子線を検出して作った像。明視野像のコントラストとは逆で、非晶質試料の場合は（厚さ×密度）積が大きい部分が明るくなり、結晶性試料の場合は回折条件を満足した部分が明るくなる。下図に示すSTEMの暗視野法では、通常、環状の検出器を用いるため、TEMでの暗視野法と違って、特定の回折波のみを選択することはできない。

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