SEMICON^® Japan 2023

故障解析やプロセス開発用途として使用される電子顕微鏡をはじめとした各種、理科学・計測機器や、リソグラフィー用途として使用される電子ビーム描画装置の展示を行います。
実機展示として、半導体試料観察が得意なショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-IT800<i>/<is>と、高スループット・自動化機能搭載の汎用走査電子顕微鏡 JSM-IT710HRのファンクションデモをあわせて行います。
ご多忙中とは存じますが、この機会にぜひご来場頂きます様、謹んでご案内申し上げます。

開催日/会場

• 日程:
  2023年12月13日 (水) ～ 15日 (金) 10:00～17:00

• 会場:
  東京ビッグサイト 東展示棟4ホール(ブースNo.4309)
  〒135-0063 東京都江東区有明3-11-1　地図

展示内容

故障解析・プロセス開発用途製品

JSM-IT710HR走査電子顕微鏡　 Live Demo 

JSM-IT800<i>/<is> ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡　 Live Demo 

JEM-ACE200F ハイスループット解析電子顕微鏡

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

装置利用サポートのご紹介

その他、電子顕微鏡やミリング装置を用いた半導体解析データの紹介例

リソグラフィー

JBX-8100FSシリーズ 電子ビーム描画装置

JBX-9500FS 電子ビーム描画装置

JBX-3200MV 電子ビーム描画装置

JBX-3050MV/S 電子ビーム描画装置

粗品(ノベルティ)のご案内

数量限定！！ご来場記念プレゼント

ダウンロードした引換券をプリントアウト、もしくはスマートフォン等で引換券をスクリーンショットしてJEOLブースの受付までお越しください。数量に限りがありますので、お1人様1個までとさせて頂きます。 いずれかの粗品が無くなった場合は、ご希望の品をご提供できない場合がございます。

お問い合わせ

日本電子株式会社
デマンド推進本部 企画部 イベントグループ
e-mail: jeol_event[at]jeol.co.jp
※[at]は@にしてください