TEMにおけるEDSの基礎

公開日： 2026/06/15

本ウェビナーでは、透過電子顕微鏡（TEM）におけるエネルギー分散型X線分光法（EDS）の基礎と活用方法について解説します。EDSの原理や元素分析の基本的な考え方を分かりやすく紹介するとともに、元素マッピングをはじめとする応用事例を通じて、研究・開発における活用例についても紹介します。また、測定条件設定のポイントや分析時の注意点など、実際のEDS測定に役立つ知識についても解説します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

EDSの基本原理
EDSの応用例
EDS測定時のポイント

参加いただきたいお客様

これからTEMを使い始める方
TEMを使い始めたばかりの方
TEMのEDS分析に関する基礎的な知識を学びたい方

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講演者	三浦颯人日本電子株式会社 SI事業部門 EM事業ユニット EMアプリケーション部
開催日	2026年7月14日(火) 16:00 ～ 17:00
参加費	無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
発表資料	発表資料の配布は行いません。
講演録画	後日講演録画をウェビナ－アーカイブに掲載します。掲載の際はメールマガジンやSNSにてご案内をいたしますので登録/フォローをお願いします。
質疑応答	講演終了後に質疑応答の時間を設けています。ご質問のある方は参加登録フォームの事前質問欄にご記入いただくか、講演当日にZoomのQ&A機能をご利用ください。
お問い合せ	日本電子株式会社デマンド推進本部ウェビナー事務局 sales1[at]jeol.co.jp [at]は＠に、ご変更ください。